[发明专利]双波长化合物结构分析仪在审
| 申请号： | 201410230717.5 | 申请日： | 2014-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN104020115A | 公开（公告）日： | 2014-09-03 |
| 发明（设计）人： | 储冬红;彭飞;郭睦庚;严方园 | 申请（专利权）人： | 成都中远千叶科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/33 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610100 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 波长 化合物 结构 分析 | ||
【权利要求书】：
1.双波长化合物结构分析仪，其特征在于，主要包括：
1--第一光源装置，2--第二光源装置，3--光束分离装置，
4--进样装置，5--第一检测装置，6--第二检测装置，
7--光束信号分析装置，8--检测结果显示装置，
其中，
第一光源装置（1）含有离子光束发射电极，该电极材料为氧化镉钆，
第二光源装置（2）含有高能光束发射电极, 该电极材料为氧化钐铒，
光束分离装置（3）含有十二棱透射光栅，该光栅表面覆盖有厚度为5.98um的八硫化钕酸锆复合透光膜，
第一检测装置（5）含有光电管，光电管阴极材料含有十二硫酸钡鐽氯化锇纳米复合薄膜，
第二检测装置（6）含有光电倍增管，其阴极材料表面含有偏溴酸钪氧化铬锆纳米复合薄膜。
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