[发明专利]旋转角度指令值的校正方法

说明书

技术领域

本发明涉及在例如将工作机械的转轴定位在规定角度位置的情况下，基于由检测装置检测到的所述转轴的检测旋转角度与实际旋转角度之间的误差来校正对于转轴所发出指令的旋转角度指令值。

背景技术

当将工作机械的转轴、例如车床的安装有卡盘的主轴索引定位在规定的角度位置时，对所述主轴进行旋转驱动，使得由旋转角度检测装置检测到的所述主轴的检测旋转角度与旋转角度指令值相一致。

作为所述主轴的旋转角度检测装置，存在有现有的例如采用被检测齿轮与磁式检测装置的检测装置，该被检测齿轮安装于主轴、并具有以规定的间距形成的多个齿，磁式检测装置固定配置在与该被检测齿轮的齿相对的位置、并输出与距离该齿的远近程度相对应的电压信号(参照专利文献1)。

然而，在所述现有的检测装置中，存在如下问题：即，在所述主轴实际旋转的角度与由所述检测装置检测到的检测值之间，产生了由所述被检测齿轮的中心的偏离等而引起的被检测齿轮旋转一周的期间内的一旋转周期误差，此外，产生了由被检测齿轮的齿的加工精度等而引起的每一个齿周期的一齿周期误差。

关于所述一旋转周期误差的校正，能通过如下方式来实现：即，预先求出将被检测齿轮的一个旋转周期(360°)分割成多个后得到的校正分割点的所述检测装置的检测误差，并根据该误差来校正旋转角度指令值。

另一个方面，关于所述一齿周期误差的校正方法，产生了如下问题：即，在一齿周期中校正分割点的间隔(deg)的小数点以下的位数过多，现有的旋转角度定位装置中无法应对。此外，在直接采用所述一旋转周期误差的校正方法进行所述一齿周期误差的校正的情况下，会产生校正点个数过多而无法处理的问题。

因此，本申请人发现一齿周期误差图案在任一个一齿周期中均示出了大致相同的趋势，针对这一点，提出了如下方法：即，通过将任意一齿周期中的一齿周期误差图案应用于任一个一齿周期来校正旋转角度指令值，由此能大幅削减误差的校正点个数，并且能减小所需的存储容量(参照专利文献2)。

现有专利文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开平05-288573号公报

专利文献2：日本专利特开2011-141247号公报

发明内容

然而，本申请的发明人发现存在如下问题：即、由所述磁式检测装置所检测到的所述转轴的实际旋转角度检测值的误差图案可能根据检测时的条件的不同而不同。即，本申请的发明人发现存在如下问题：即，对于所述一齿周期误差图案，在检测时的条件、例如被检测齿轮的旋转方向是正方向的情况下与被检测齿轮的旋转方向是反方向的情况下，所述一齿周期误差图案不同。

本发明是鉴于上述状况而完成的，其课题在于，提供一种旋转角度指令值的校正方法，该旋转角度指令值的校正方法中，在将任意的一齿周期中的一齿周期误差图案用于任一个一齿周期来对旋转角度指令值进行校正时，即使在检测时的条件不同的情况下，也能高精度地对旋转角度指令值进行校正。

权利要求1的发明的旋转角度指令值的校正方法中，利用磁式检测装置对被检测齿轮的旋转角度进行检测，并且基于利用所述磁式检测装置检测到的检测旋转角度与实际旋转角度之间的误差来校正对所述转轴进行指令的旋转角度指令值，其中，该被检测齿轮安装于转轴上，在外周具有以规定间距形成的多个齿，所述磁式检测装置配置为与所述齿相对，所述旋转角度指令值的校正方法的特征在于，，

检测出不同条件下的一齿单位的所述检测旋转角度与所述实际旋转角度之间的误差，来求出每个不同条件下的个别误差图案，在规定的条件下，基于该规定条件所对应的个别误差图案来校正所述旋转角度指令值。

权利要求2的发明的特征在于，在权利要求1所记载的旋转角度指令值的校正方法中，所述转轴的向正方向的旋转与其向反方向的旋转是所述不同条件，求出正方向旋转时的所述一齿单位的正方向误差图案与反方向旋转时的所述一齿单位的反方向误差图案，在正方向旋转时基于正方向误差图案，在反方向旋转时基于反方向误差图案来分别对所述旋转角度指令值进行校正。

权利要求3的发明的特征在于，在权利要求1所记载的旋转角度指令值的校正方法中，在环境温度不同的情况下，可以将各环境温度作为所述不同条件，求出每个该环境温度下所述一齿单位的误差图案，并基于各环境温度所对应的误差图案来校正所述旋转角度指令值。

发明效果

本申请的发明人发现被检测齿轮的任意相邻的两个齿之间的检测旋转角度相对于实际旋转角度的误差、即一齿周期误差图案可能根据检测时的条件的不同而不同，并基于这一点而完成了本发明。