[发明专利]基于巡检自愈的FPGA空间应用抗辐射加固方法有效
| 申请号： | 201410231403.7 | 申请日： | 2014-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN105320014B | 公开（公告）日： | 2017-11-14 |
| 发明（设计）人： | 李志强;朱文明;何涛;陈啸;李飞龙;孙健俊;殷君;汤吉波;石盛超;张卫同;李建伟;马赫 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军理工大学 |
| 主分类号： | G05B19/042 | 分类号： | G05B19/042;G06F11/16;G06F9/445 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心32203 | 代理人： | 吴茂杰,朱显国 |
| 地址： | 210007 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 巡检 自愈 fpga 空间 应用 辐射 加固 方法 | ||
1.一种基于巡检自愈的FPGA空间应用抗辐射加固方法，用于FPGA及与之相连的主控端构成的FPGA空间应用系统，其特征在于，包括如下步骤：
(10)通道状态检测：主控端根据通道状态信息，判断通道状态，如处于失锁状态，则转至(20)失锁处置步骤，如处于持续锁定状态，则转至(30)持续锁定处置步骤，如处于跳变状态，则转至(40)跳变处置步骤；
(20)失锁处置：对失锁通道进行自检，以确定该通道功能是否正常，如正常，则返回(10)通道状态检测步骤，否则，转至(50)重新加载步骤；
(30)持续锁定处置：将持续锁定通道的持续锁定时间与持续锁定时间门限比较，当锁定超时后，转至(50)重新加载步骤；
(40)跳变处置：对跳变通道进行跳变沿检测，当在计数检测时间内跳变次数超过计数预设值时，则判定该通道异常，转至(50)重新加载步骤，否则，返回(10)通道状态检测步骤；
(50)重新加载：主控端发出指令，对FPGA进行重新加载，加载完成后返回(10)通道状态检测步骤。
2.根据权利要求1所述的抗辐射加固方法，其特征在于，所述(10)通道状态检测步骤包括：
(11)失锁判定：若通道状态信息中没有上行信号或者上行接收通道接收功能异常，则通道处于失锁状态；
(12)持续锁定判定：若通道状态信息中持续具有上行信号且上行接收通道接收功能正常，则通道处于持续锁定状态；
(13)跳变判定：若通道状态信息中上行信号断续出现，或接收通道接收功能断续异常，则通道处于跳变状态。
3.根据权利要求1所述的抗辐射加固方法，其特征在于，所述(20)失锁处置步骤包括：
(21)失锁计时：对通道失锁状态计时，得到失锁持续时间；
(22)系统自检：如通道失锁持续时间超过失锁时间门限，则对该通道进行自检；
(23)系统异常判定：根据自检信息，判定失锁通道功能是否正常。
4.根据权利要求1所述的抗辐射加固方法，其特征在于，所述(30)持续锁定处置步骤包括：
(31)锁定计时：对通道锁定状态计时，得到持续锁定时间；
(32)锁定超时判定：将通道持续锁定时间与持续锁定时间门限比较，如超过持续锁定时间门限，则判定锁定超时。
5.根据权利要求1所述的抗辐射加固方法，其特征在于，所述(40)跳变处置步骤包括：
(41)跳变计数：对跳变次数计数；
(42)通道异常判定：若在计数检测时间内跳变次数超过预设次数，则判定该通道异常。
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