[发明专利]MALDI质谱分析用测定基板在审
| 申请号： | 201410234955.3 | 申请日： | 2014-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN104217917A | 公开（公告）日： | 2014-12-17 |
| 发明（设计）人： | 岛田崇史;青木智景;佐藤孝明;中谷将也;叶山雅昭 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所;松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | H01J49/04 | 分类号： | H01J49/04 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇;李茂家 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | maldi 谱分析 测定 | ||
1.一种MALDI质谱分析用测定基板，其特征在于，具备：
底板，其具有上表面；和
高取向性石墨片，其被铺设在所述上表面的至少一部分上，取向方向位于所述上表面的面内。
2.根据权利要求1所述的MALDI质谱分析用测定基板，其特征在于，在所述高取向性石墨片的表面存在10nm～1μm的凹凸。
3.根据权利要求1或2所述的MALDI质谱分析用测定基板，其特征在于，所述底板具有导电性。
4.根据权利要求1～3中任一项所述的MALDI质谱分析用测定基板，其特征在于，所述底板为不锈钢制。
5.根据权利要求1～4中任一项所述的MALDI质谱分析用测定基板，其特征在于，所述底板与所述高取向性石墨片利用导电性粘合剂层被固定。
6.根据权利要求5所述的MALDI质谱分析用测定基板，其特征在于，在所述导电性粘合剂层中插入有良导电板。
7.根据权利要求1～3中任一项所述的MALDI质谱分析用测定基板，其特征在于，所述底板具有透光性。
8.一种MALDI质谱分析方法，其特征在于，在具有上表面的底板的上表面的至少一部分上铺设取向方向位于所述上表面的面内的高取向性石墨片，在其上载置目标样品。
9.根据权利要求8所述的MALDI质谱分析方法，其特征在于，在所述高取向性石墨片的表面存在10nm～1μm的凹凸。
10.根据权利要求8或9所述的MALDI质谱分析方法，其特征在于，所述底板具有导电性。
11.根据权利要求8～10中任一项所述的MALDI质谱分析方法，其特征在于，所述底板为不锈钢制。
12.根据权利要求8～11中任一项所述的MALDI质谱分析方法，其特征在于，将所述底板与所述高取向性石墨片利用导电性粘合剂层固定。
13.根据权利要求12所述的MALDI质谱分析方法，其特征在于，在所述导电性粘合剂层中插入良导电板。
14.根据权利要求8～10中任一项所述的MALDI质谱分析方法，其特征在于，所述底板具有透光性。
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