[发明专利]一种标识防伪方法无效
申请号: | 201410237194.7 | 申请日: | 2014-05-30 |
公开(公告)号: | CN104015521A | 公开(公告)日: | 2014-09-03 |
发明(设计)人: | 邬跃;刘红;张涵 | 申请(专利权)人: | 北京物资学院 |
主分类号: | B42D25/445 | 分类号: | B42D25/445;C09K9/02 |
代理公司: | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 | 代理人: | 尹振启 |
地址: | 101149 北京市通*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 标识 防伪 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种标识防伪方法,具体涉及该防伪方法中使用的纳米级有机发光材料。
背景技术
现有的商品、或钱币上,普遍设置有印刷类的防伪标识,防伪标识出现的时间特别长,虽然几经改进和换代,但是这些防伪标识还是容易被破解和仿制,仿制出来的假冒防伪标识具有较高的仿真度,利用专业识别工具都很难分辨出真假,甚至让本领域专家亲自辨别也难以区分,归其原因,是因为现有的防伪标识制作技术难度并不高,难以达到制作技术无法突破的程度,通过破解最终还是可以仿制的。
在许多技术领域,纳米技术应用范围越来越广,有些纳米级的有机材料能够呈现出特殊的光学性质,例如多色发光。而且要将材料制作成纳米级,存在很大的技术难度,其所依据的方法理论、用到的制作设备不是普通大众所能够理解和采用的,所以非常不容易仿制,能够很好地限制造假者通过破解手段达到仿制防伪标识的行为。
发明内容
针对上述现有技术中存在的问题,本发明的目的在于提供一种标识防伪方法,该方法中采用纳米级的有机发光材料制作防伪标识,用不同波长的光激发,该防伪标识能够发出不同颜色的光,由于其发光效应仅仅在纳米级的材料上才能实现,技术上难以复制,所以能够达到较高的防伪效果。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:
一种标识防伪方法,在防伪标识上设置显色层,显色层印刷或涂覆在基体表面,显色层采用化合物“1,2,3,4,5-五苯基-1,3-环戊二烯(PPCP)”制作,制作成纳米级结构;用不同波长的光激发该显色层,显色层能够发出不同颜色的光;所述显色层表面覆盖有透明保护层。
进一步,所述化合物“1,2,3,4,5-五苯基-1,3-环戊二烯(PPCP)”形成单晶一维纳米带,所述显色层包括多个所述的单晶一维纳米带,形成宏观上的多色发光效应。
进一步,所述化合物“1,2,3,4,5-五苯基-1,3-环戊二烯(PPCP)”通过分子自组装形成纳米级的单晶结构的晶体,所述显色层包括多个所述的晶体,形成宏观上的多色发光效应。
进一步,所述显色层制作成规则或不规则的图案。
进一步,所述基体采用易碎标签纸,所述基体还可以由纸币构成。
如上所述的标识防伪方法,具有以下优点:
该方法中采用纳米级的有机发光材料制作防伪标识,用不同波长的光激发,该防伪标识能够发出不同颜色的光,所发出的光分别针对相应波长的激发光,由于其发光效应仅仅在纳米级的材料上才能实现,制作方法不易被掌握,技术上难以复制,所以能够达到较高的防伪效果。
附图说明
图1为本发明所描述的防伪标识在显微镜下的明场照片(图中标尺为10μm);
图2为本发明所描述的防伪标识在紫外光(330~380nm)激发下的荧光显微照片;
图3为本发明所描述的防伪标识在蓝光(460~490nm)激发下的荧光显微照片;
图4为本发明所描述的防伪标识在绿光(520~550nm)激发下的荧光显微照片;
图5为本发明所描述的防伪标识的剖视图。
图中:1、基体;2、保护层;3、显色层。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明为达到预定发明目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图和较佳实施例,对本发明的结构、特征以及功效详细说明如后。
在该实施例中,一种标识防伪方法,在防伪标识上设置显色层,显色层印刷或涂覆在基体表面,显色层采用化合物“1,2,3,4,5-五苯基-1,3-环戊二烯(PPCP)”制作,制作成纳米级结构;用不同波长的光激发该显色层,显色层能够发出不同颜色的光;所述显色层表面覆盖有透明保护层。
本发明所描述的防伪标识的宏观结构如图5所示,底层为基体1,显色层3通过现有的印刷或涂覆技术设置在基体1,为了延长使用时间,显色层3表面覆盖有透明保护层2。基体1采用易碎标签纸,基体1还可以由纸币构成,这样便制成了带有本发明所描述防伪标识的纸币。
在本实施例在,化合物“1,2,3,4,5-五苯基-1,3-环戊二烯(PPCP)”形成单晶一维纳米带,所述显色层包括多个所述的单晶一维纳米带,形成宏观上的多色发光效应。
单晶一维纳米带可以通过物理气相沉积法、再沉淀法、模板辅助法等方法制备。
如图1所示,为本发明所描述的防伪标识在显微镜下的明场照片(图中标尺为10μm)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京物资学院,未经北京物资学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410237194.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:发送调度信息的方法和基站
- 下一篇:一种阵列基板、显示装置及其制造方法