[发明专利]一种芯片错误注入测试方法及装置

说明书

本发明属于芯片的测试技术领域，提供了一种芯片错误注入的测试方法及装置。所述方法包括：将测试数据组输入到待检测芯片的存储区中；在待检测芯片运行过程中对其进行错误注入；读取错误注入后的测试数据组，判断所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组是否相同；若相同，则对所述存储区中的测试数据组进行更改，并将更改后的测试数据组重新输入到待检测芯片的存储区中，以重新进行错误注入测试；若不相同，则记录芯片的告警情况，以计算芯片的漏报率。本发明通过所述对测试数据组进行更改，增加了安全芯片在错误注入后的出错类型，从而提高了对安全芯片的安全性评估的准确性。

技术领域

本发明属于芯片的测试技术领域，尤其涉及一种芯片错误注入测试方法及装置。

背景技术

随着社会信息化的日益发展，信息安全产品逐步得到普及，安全芯片也随之得到越来越广泛的应用。在安全芯片出厂之前，都必须对其安全性进行分析。而错误注入是对安全芯片进行攻击和分析的有效手段之一。错误注入是指在外面干扰(如激光注入)的情况下，使芯片存储数据出错或运算出错。安全芯片对错误注入都会采取相应的防御措施。当芯片检测到数据出错时，则发出告警；若芯片没有检测到数据出错时，则产生漏报警。根据芯片的告警和漏告警情况计算得到的漏报率，成为衡量芯片安全性的重要指标。

现行的采用错误注入对安全芯片进行漏报率的统计方法为：利用计算机向芯片的存储区输入一组数据并进行错误注入，然后对芯片的告警和漏告警次数进行统计。不改变所输入数据的值，重新再进行错误注入和结果统计，根据若干次的统计结果计算出安全芯片的漏报率。然而，由于电路结构、实现工艺等的不同，一些特殊存储器在进行错误注入时，数据出错类型不具有随机性，表现为对存储区中的同一组数据进行错误注入时，产生相同的错误类型，从而导致芯片的告警和漏告警统计不合理，不能准确地实现对安全芯片的安全性评估。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于对输入的测试数据组进行更改的芯片错误注入测试方法及装置，以增加安全芯片在错误注入后的出错类型，提高对安全芯片的安全性评估的准确性。

本发明是这样实现的，一种芯片错误注入测试方法，所述方法包括：

将测试数据组输入到待检测芯片的存储区中；

在待检测芯片运行过程中对其进行错误注入；

读取错误注入后的测试数据组，判断所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组是否相同；

在所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组不相同时，记录芯片的告警情况，以计算芯片的漏报率。

进一步地，所述方法还包括：

所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组相同时，对所述存储区中的测试数据组进行更改，并将更改后的测试数据组重新输入到待检测芯片的存储区中，以重新进行错误注入测试。

本发明的第二方面，还提供了一种芯片错误注入测试装置，所述装置包括：

数据输入模块，用于将测试数据组输入到待检测芯片的存储区中；

错误注入模块，用于在待检测芯片运行过程中对其进行错误注入；

数据对比模块，用于读取错误注入后的测试数据组，判断所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组是否相同；

统计模块，用于在所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组不相同时，记录芯片的告警情况，以计算芯片的漏报率。

进一步地，所述装置还包括数据变更模块；

所述数据变更模块，用于在所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组相同时，对所述存储区中的测试数据组进行更改，并将更改后的测试数据组重新输入到待检测芯片的存储区中，以重新进行错误注入测试。