[发明专利]一种化学沉铜背光测试方法有效

专利信息
申请号: 201410244583.2 申请日: 2014-06-04
公开(公告)号: CN104034659A 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 刘云洁;高原;张文晗 申请(专利权)人: 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
主分类号: G01N21/00 分类号: G01N21/00
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710068 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 化学 背光 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种化学沉铜背光测试方法,其特征在于:包括以下步骤:

1)制作标准背光测试片

A)将表面铜箔去除干净的覆铜箔环氧树脂玻璃布层压板压合成若干层背光标准片;

B)在步骤A)得到的背光标准片上钻取若干组直径不同的背光测试孔;

C)将步骤B)钻孔后的背光标准片加工成尺寸为100mm×100mm的标准背光测试片;

D)将标准背光测试片清洗烘干,并真空包装;

2)化学沉铜

将步骤1)得到的标准背光测试片装入化学沉铜挂篮内,依次经过溶胀→去胶渣→中和→整孔→微蚀→预浸→活化→速化→化铜工序后,将标准背光测试片清洗烘干,得到沉铜后的标准背光测试片;

3)背光测试孔灌封

E)将冷埋树脂混合物从沉铜后的标准背光测试片的背光测试孔一端塞入,至另一端流出,然后将两端多余的冷埋树脂混合物刮平;

F)将灌封后的标准背光测试片烘烤至硬化;

4)研磨

在研磨机上用砂纸将烘烤后的标准背光测试片一面研磨至距背光测试孔中心线1.0-1.5mm,然后将另一面研磨至一排背光测试孔之中心线;

5)检测

对研磨后的标准背光测试片进行检测,得到背光等级。

2.根据权利要求1所述的一种化学沉铜背光测试方法,其特征在于:所述的步骤1)中采用蚀刻机将覆铜箔环氧树脂玻璃布层压板表面铜箔去除干净。

3.根据权利要求1所述的一种化学沉铜背光测试方法,其特征在于:在背光标准片上钻取三组直径分别为0.3mm、0.8mm和1.0mm的背光测试孔。

4.根据权利要求1所述的一种化学沉铜背光测试方法,其特征在于:按照2.5:1依次将冷埋树脂粉和冷埋树脂水置入50ml烧杯中,匀速搅拌10-15秒得到冷埋树脂混合物。

5.根据权利要求1所述的一种化学沉铜背光测试方法,其特征在于:在烘箱中对灌封后的标准背光测试片进行烘烤,烘烤温度为45-55℃,烘烤时间为3-5min。

6.根据权利要求1所述的一种化学沉铜背光测试方法,其特征在于:所述的步骤5)中检测的具体过程为使用20倍显微镜,调节焦距,使孔壁清晰,观察孔壁沉铜情况,依照孔壁沉铜的完整程度,对比背光等级标准图,分别判定每一个孔的背光等级,以其中最低背光等级为判定结果。

7.根据权利要求1所述的一种化学沉铜背光测试方法,其特征在于:采用数控钻床加工背光测试孔。

8.根据权利要求1所述的一种化学沉铜背光测试方法,其特征在于:采用数控铣床将背光标准片加工成标准背光测试片。

9.根据权利要求1所述的一种化学沉铜背光测试方法,其特征在于:所述的步骤A)采用层压模式图将背光标准片压合成厚度为2.0mm的12层背光标准片。

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