[发明专利]由HY-2卫星反演电离层垂直电离层总电子含量的方法

权利要求书

1.由HY-2卫星反演电离层垂直电离层总电子含量的方法，其特征在于，包括

1)计算电离层距离改正值并剔除默认值与非负值；

2)对提取的电离层距离改正值进行粗差探测；

3)对粗差探测后数据进行平滑处理；

4)依据平滑结果计算数值点对应的观测时间和经、纬度；

5)根据公式(1)计算电离层垂直电离层总电子含量值；

式中，VTEC表示垂直电离层总电子含量，单位：TECU；dR表示不同频率波段电离层距离改正，单位：mm；f表示电磁波频率，单位：GHZ。

2.根据权利要求1所述的由HY-2卫星反演电离层垂直电离层总电子含量的方法，其特征在于所述步骤1)中，提取Ku波段距离改正值，再进行剔除默认值与非负值操作。

3.根据权利要求1所述的由HY-2卫星反演电离层垂直电离层总电子含量的方法，其特征在于所述步骤3)中所述平滑处理采用时间间隔准则。

4.根据权利要求3所述的由HY-2卫星反演电离层垂直电离层总电子含量的方法，其特征在于所述平滑处理中，根据时间间隔进行平滑。

5.根据权利要求4所述的由HY-2卫星反演电离层垂直电离层总电子含量的方法，其特征在于所述时间间隔根据纬度带间隔设置，平滑时间间隔与纬度带间隔的关系为：t＝ΔB*20，公式中，t表示平滑时间间隔，单位：秒；ΔB表示纬度带间隔，单位：度。

6.根据权利要求1所述的由HY-2卫星反演电离层垂直电离层总电子含量的方法，其特征在于所述步骤4)中，所述观测时间、经度以及纬度通过取中值或求平均值的方法求得。