[发明专利]薄型化芯片的封装结构及其制造方法在审
申请号: | 201410246555.4 | 申请日: | 2014-06-05 |
公开(公告)号: | CN105280572A | 公开(公告)日: | 2016-01-27 |
发明(设计)人: | 林殿方 | 申请(专利权)人: | 东琳精密股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L21/50;H01L21/56 |
代理公司: | 上海一平知识产权代理有限公司 31266 | 代理人: | 须一平 |
地址: | 中国台湾苗*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄型化 芯片 封装 结构 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明有关一种封装结构及其制造方法,特别关于一种薄型化芯片的封装结构及其制造方法。
背景技术
芯片的封装结构目的,除了在于能使芯片容易与电路板连接外,还能保护芯片不会被外力所破坏,以及避免水气或灰尘等影响到得芯片的效能;另外,有些封装结构能提供芯片较佳的散热路径。
随着时代的演进,芯片上的电子元件越来越密集,封装结构也越来越复杂。此外,在现今随身电子装置、穿戴式电子装置盛行的趋势下,芯片及芯片的封装结构也有小型化的趋势。然而,但若将芯片的厚度减小(即薄型化),现有的封装结构却难以对薄型化的芯片进行封装。这是因为薄型化的芯片的结构强度明显不足,芯片容易在封装过程破裂。
举例而言,在芯片封装的过程中,有一步骤是使用封装胶体来包倒晶芯片。在此步骤中,胶体在注模时会压迫芯片,而芯片往往无法承受而破裂。此外,胶体注模后通常会经过一加热程序,以使胶体加速固化;然而,基板或胶体在热膨冷缩时会挤压芯片,易使芯片损坏。
有鉴于此,如何改善至少一种上述缺失,乃为此业界待解决的问题。
发明内容
本发明的一目的在于提供一种薄型化芯片的封装结构及其制造方法,其解决的技术问题至少为:使薄型化芯片在封装的过程中不易受到破坏。
为达上述目的,本发明揭示的薄型化芯片的封装结构包含一基板、一薄型化芯片、一强化层及一密封胶体。薄型化芯片设置于基板上且与基板电性连接;强化层设置于该薄型化芯片上;密封胶体形成于基板上且包覆薄型化芯片及强化层。强化层承受形成密封胶体的压力或应力,以保护薄型化芯片。
为达上述目的,本发明所揭示的薄型化芯片的封装结构的制造方法包含:提供一基板;设置一薄型化芯片于该基板上,且电性连接该薄型化芯片与该基板;设置一强化层于该薄型化芯片上;以及形成一密封胶体于该基板上,且使该密封胶体包覆该薄型化芯片及该强化层。其中强化层承受形成该密封胶体的压力或应力,以保护该薄型化芯片。
为让上述目的、技术特征及优点能更明显易懂,下文以较佳的实施例配合所附图示进行详细说明。
附图说明
图1为根据本发明的第一实施例的封装结构的侧视图;
图2A为根据本发明的第二实施例的封装结构的侧视图;
图2B为根据本发明的第二实施例的封装结构的俯视图;
图2C为根据本发明的第二实施例的封装结构的另一俯视图;
图3A为根据本发明的第三实施例的封装结构的侧视图;
图3B为根据本发明的第三实施例的封装结构的俯视图;
图4A为根据本发明的第四实施例的封装结构的侧视图;
图4B为根据本发明的第四实施例的封装结构的侧视图;
图5A为根据本发明的第五实施例的封装结构的制造方法的步骤示意图;
图5B为根据本发明的第五实施例的封装结构的制造方法的步骤示意图;
图5C为根据本发明的第五实施例的封装结构的制造方法的步骤示意图;
图5D为根据本发明的第五实施例的封装结构的制造方法的步骤示意图;
图5E为根据本发明的第五实施例的封装结构的制造方法的步骤示意图。
具体实施方式
首先请参考图1,其为根据本发明的第一实施例的封装结构的侧视图。本发明提供一种薄型化芯片的封装结构,在第一实施例中,封装结构1包含:一基板110、一薄型化芯片120、一强化层130及密封胶体140。
薄型化芯片120是指厚度较小的芯片,其厚度例如可小于80微米,而较佳的是小于35微米。薄型化芯片120可设置于基板110上并与基板110电性连接,电性连接的方法可为倒晶方式或通过引线键合方式与基板110电性连接,但不以此为限。而下文即以引线121将薄型化芯片120与基板110形成电性连接为示例性说明。
强化层130可设置于薄型化芯片120上,且在本实施例中,强化层130的宽度小于薄型化芯片120;因此,强化层130设置于薄型化芯片120后,薄型化芯片120的上表面的一部分仍会露出,使位于薄型化芯片120上表面的焊垫122不会被强化层130遮蔽。如此,焊垫122能通过引线121与基板110的焊垫112形成电性连接。
密封胶体140则是形成于基板110上,且包覆薄型化芯片120及强化层130。
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