[发明专利]一种超声波探伤缺陷定位测量装置及其使用方法

权利要求书

1.一种超声波探伤缺陷定位测量装置，其特征在于，所述超声波探伤缺陷定位测量装置包括：主尺(1)、左游标尺(2)、右游标尺(3)、左锁紧螺丝(4)、右锁紧螺丝(5)和磁吸(6)；所述主尺(1)由具备弯曲至与检测部件表面贴合的弹性材质制成；所述主尺(1)上端标有刻度；所述主尺(1)两端底部均设置有所述磁吸(6)；所述主尺(1)中间设置有中空导轨；所述左游标尺(2)通过所述左锁紧螺丝(4)紧固在所述中空导轨上；所述右游标尺(3)通过所述右锁紧螺丝(5)紧固在所述中空导轨上；所述左锁紧螺丝(4)和右锁紧螺丝(5)均包括与其相配合的锁紧螺母；所述左游标尺(2)和右游标尺(3)在所述主尺(1)中间沿所述中空导轨左右滑动；所述左游标尺(2)和右游标尺(3)相对的一端均标有刻度；所述左游标尺(2)和右游标尺(3)中间均设置有实现上下滑动的中空导轨。

2.根据权利要求1所述的一种超声波探伤缺陷定位测量装置，其特征在于，所述主尺(1)、左游标尺(2)、右游标尺(3)、左锁紧螺丝(4)、右锁紧螺丝(5)均为不锈钢材质。

3.根据权利要求2所述的一种超声波探伤缺陷定位测量装置，其特征在于，所述主尺(1)上端标有以中间为零点，向两侧标识长度的刻度，所述刻度最小单位为mm。

4.根据权利要求3所述的一种超声波探伤缺陷定位测量装置，其特征在于，所述左游标尺(2)和右游标尺(3)长度为5～10cm。

5.根据权利要求4所述的一种超声波探伤缺陷定位测量装置，其特征在于，所述左游标尺(2)和右游标尺(3)相向一侧顶端为对称的锐角；底端均为圆弧。

6.一种应用权利要求1～5项任一项所述的一种超声波探伤缺陷定位测量装置进行测量的方法，所述方法分为如下步骤：

调整好使其合并对齐至主尺零点，并向上滑动后拧紧左锁紧螺丝(4)和右锁紧螺丝(5)以固定位置；

当超声波探伤检测到缺陷的最高波反射波时，超声波探头固定不动，用测量尺上左游标尺(2)和右游标尺(3)的尖端抵住探头中间部位，两端磁吸(6)下压吸附固定测量尺于检测部件表面；

根据超声波探伤仪指示缺陷与探头前端的距离，拧松左锁紧螺丝(4)，左游标尺(2)顺右游标尺(3)下移相应刻度距离后，拧松右锁紧螺丝(5)，右游标尺(3)顺左游标尺(2)下移至其尖端与左游标尺(2)对齐，其尖端指示缺陷最高反射波位置A点；

超声波探头向左移动至最高反射波降低6dB处，左游标尺(2)沿主尺向左水平滑动，左游标尺(2)尖端指示B处，超声波探头向右移动至最高反射波降低6dB处，右游标尺(3)沿主尺向右水平滑动，右游标尺(3)尖端指示C处，拧紧右锁紧螺丝(5)；

此时B、C点的间距即缺陷的指示长度，由左游标尺(2)和右游标尺(3)刻度值之和得出，主尺(1)的零点指示缺陷最高反射波位置。