[发明专利]超音速等离子喷涂陶瓷熔滴扁平化形貌的测试方法

权利要求书

1.一种超音速等离子喷涂陶瓷熔滴扁平化形貌的测试方法，其特征在于，包括下述步骤：

(1)对原始喷涂粉体进行200目以上、325目以下过筛处理；

(2)在抛光后的基体上采用狭缝法收集单个陶瓷熔滴，即在基体前放置“V”型狭缝，喷枪通过可控装置超音速喷出飞行粒子，飞行粒子通过狭缝，以单个形式分散撞击于基体表面，采用测温测速系统在线监测粒子表面温度和飞行速度；

(3)将撞击于基体表面的粒子试样置于三维激光显微镜下，先在低倍镜头下拍摄扁平粒子宏观形貌照片，选取待测试的粒子，将其置于视野中心，然后转换至高倍镜头，选择圆形区域覆盖该粒子所占的面积S，利用计算机图像处理软件测量单个粒子扁平后的体积V_p＝V-S(h_p-h₀)，其中，V为粒子体积与基体表面体积之和；h_p为粒子所在面的高度，h₀为基体表面高度；利用等体积法原理反推出原始粒子直径d_p＝(6V_p)^1/3π^-1/3；由于被测粒子扁平化形貌包括盘状未飞溅，网状飞溅，针状飞溅三种状态，故采用对应的三种区域测量方法；

(4)利用计算机图像处理软件测量所有粒子扁平后的直径D_p，计算已知原始直径粒子的扁平率ζ＝D_p/d_p；再计算出这些粒子表征飞溅程度的雷诺数Re＝ρvd_p/μ，统计多个扁平粒子，得出扁平率与雷诺数的数量关系曲线；

(5)最后，将D_p记录下来，用步骤(4)所得的扁平率与雷诺数间的数量关系曲线得出d_p的9个区间，再将粒子扁平后的直径D_p与上述d_p的9个区间一一对应，统计在不同原始粒径d_p范围的粒子个数，并得出其所占百分比，制作粒径分布图，即可得到细化程度。

2.如权利要求1所述的超音速等离子喷涂陶瓷熔滴扁平化形貌的测试方法，其特征在于，步骤(3)所述三种区域测量方法为，对于盘状未飞溅粒子，圆形所覆盖区域即为测试区域；对于网状飞溅粒子，选取中心圆盘区所覆盖区域作为所测区域，测量后再乘以飞溅系数1.2-1.3来弥补飞溅部分所占体积；对于针状飞溅粒子，将圆形测试区域半径选为与中心盘状区相连针枝的2/5处。

3.如权利要求1所述的超音速等离子喷涂陶瓷熔滴扁平化形貌的测试方法，其特征在于，步骤(4)所述统计多个扁平粒子，扁平粒子的数量为15个。

4.如权利要求1所述的超音速等离子喷涂陶瓷熔滴扁平化形貌的测试方法，其特征在于，步骤(5)所述9个区间分为0-5μm；5-10μm，10-15μm…40-45μm。