[发明专利]可调色温模块、可调色温的LED驱动电路及系统

权利要求书

1.一种可调色温模块，其特征在于，包括：一开关检测比较器、一计时比较器、一状态机、一第一MOS晶体管以及一第二MOS晶体管； 

所述开关检测比较器的第一输入端为所述可调色温模块的一输入端，用于接收一第一采样电压信号，所述开关检测比较器的第二输入端与一第一参考电压源的输出端电学连接，所述开关检测比较器的输出端电学连接至所述状态机的第一输入端； 

所述计时比较器的第一输入端为所述可调色温模块的另一输入端，用于接收一第二采样电压信号，所述计时比较器的第二输入端与一第二参考电压源的输出端电学连接，所述计时比较器的输出端电学连接至所述状态机的第二输入端； 

所述状态机的第一输出端电学连接至所述第一MOS晶体管的栅极，所述第一MOS晶体管的漏极为所述可调色温模块的第一输出端，用于根据所述开关检测比较器的比较结果输出一第一电压控制信号以控制一色温状态的LED负载的导通与关闭； 

所述状态机的第二输出端电学连接至所述第二MOS晶体管的栅极，所述第二MOS晶体管的漏极为所述可调色温模块的第二输出端，用于根据所述计时比较器的比较结果输出一第二电压控制信号以控制另一色温状态的LED负载的导通与关闭。

2.根据权利要求1所述的可调色温模块，其特征在于，所述可调色温模块进一步包括：一运算放大器以及一状态比较器； 所述运算放大器的一输入端分别与一电流设置电阻以及一第十MOS晶体管的源极电学连接，所述运算放大器的另一输入端与一第三参考电压源的输出端电学连接，所述运算放大器的输出端电学连接所述第十MOS晶体管的栅极； 所述第十MOS晶体管的漏极电学连接一第七MOS晶体管的漏极，所述第七MOS晶体管与一第八MOS晶体管、一第九MOS晶体管组成电流镜； 所述第八MOS晶体管的漏极电学连接一第一电流源和一第二电流源，所述第一电流源电性连接一第三MOS晶体管的漏极，所述第三MOS晶体管与一第五MOS晶体管组成电流镜，所述第五MOS晶体管的漏极电学连接至所述可调色温模块的第一输出端，所述第二电流源电性连接一第四MOS晶体管的漏极，所述第四MOS晶体管与一第六MOS晶体管组成电流镜，所述第六MOS晶体管的漏极电学连接至所述可调色温模块的第二输出端； 所述第九MOS晶体管的漏极分别与一负载电流源以及所述状态比较器的输入端电学连接，所述状态比较器的输出端电学连接所述状态机。

3.一种可调色温的LED驱动电路，其特征在于，包括一权利要求1所述的可调色温模块、一第一采样单元、一分压单元以及一第二采样单元； 

所述第一采样单元与LED驱动电路的供电信号端或输出电压信号端电学连接，用于获取采样电压信号； 所述分压单元电学连接所述第一采样单元，用于对所述采样电压信号进行分压获取第一采样电压信号； 所述第二采样单元电学连接所述第一采样单元，用于获取第二采样电压信号； 所述可调色温模块的第一输入端通过所述开关检测比较器的第一输入端电学连接所述分压单元，所述可调色温模块的第二输入端通过所述计时比较器的第一输入端电学连接所述第二采样单元，所述可调色温模块的第一输出端通过所述第一MOS晶体管的漏极电学连接一色温状态的LED负载阴极，所述可调色温模块的第二输出端通过所述第二MOS晶体管的漏极电学连接另一色温状态的LED负载阴极； 根据所述开关检测比较器以及所述计时比较器的比较结果控制所述第一MOS晶体管和/或第二MOS晶体管的导通或断开，进而控制不同色温状态的LED负载的导通与关闭，从而调节色温。

4.根据权利要求3所述的可调色温的LED驱动电路，其特征在于， 所述第一采样单元包括串接的采样电阻以及采样电容，所述采样电阻与LED驱动电路的输出电压信号端电学连接，所述采样电容通过所述采样电阻获取所述采样电压信号； 所述分压单元包括串接的上分压电阻以及下分压电阻，所述上分压电阻一端耦接至所述采样电阻以及采样电容之间，另一端分别与所述下分压电阻以及所述开关检测比较器的第一输入端电学连接； 所述第二采样单元包括一供电二极管、一计时电容以及一稳压二极管，所述供电二极管一端耦接至所述采样电阻以及采样电容之间，另一端与所述计时电容电学连接，所述计时电容通过所述供电二极管获取所述第二采样电压信号，所述稳压二极管并联与所述计时电容两端，其中，所述计时电容的电容值大于所述采样电容的电容值。