[发明专利]一种晶硅太阳电池扩散死层去除方法在审
申请号: | 201410250508.7 | 申请日: | 2014-06-09 |
公开(公告)号: | CN103996750A | 公开(公告)日: | 2014-08-20 |
发明(设计)人: | 王强;章圆圆;陈培良 | 申请(专利权)人: | 常州时创能源科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 213300 江苏省常*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 太阳电池 扩散 去除 方法 | ||
1.一种晶硅太阳电池扩散死层去除方法,其特征在于,所述方法通过以下步骤完成:
首先,对扩散处理后的晶体硅片进行去磷硅玻璃处理;
接着,用NaClO水溶液、NaBrO4 水溶液或H2O2碱溶液对上述晶体硅片的死层进行氧化处理;
最后,用HF水溶液去除上述晶体硅片表面的氧化层。
2.根据权利要求1所述的去死层方法,其特征在于,上述NaClO水溶液中NaClO占该水溶液的质量百分比为0.2-1%;上述NaBrO4水溶液中NaBrO4占该水溶液的质量百分比为0.2-1%;上述H2O2碱溶液包括碱和H2O2 水溶液,其中碱的含量为1-10g/L,所述碱为NaOH和/或KOH,其中H2O2水溶液占体积百分比的2-10%,该H2O2水溶液中H2O2占质量百分比的30-32%;上述HF水溶液中HF占质量百分比的3-10%。
3.根据权利要求2所述的去死层方法,其特征在于:上述NaClO水溶液或NaBrO4水溶液的清洗温度为 10-30℃,清洗时间为5-200s;上述H2O2碱溶液的清洗温度为 30-70℃,清洗时间为5-200s。
4.根据权利要求2所述的去死层方法,其特征在于:所述HF水溶液的清洗温度为10-30℃,清洗时间为5-300s。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的