[发明专利]多极限物位测量设备

权利要求书

1.一种多极限物位测量设备(100)，所述多极限物位测量设备(100)用于使用至少两种不同的测量数据评估方法确定极限物位，其中，所述至少两种不同的测量数据评估方法中的每种测量数据评估方法都构造成检测所述极限物位，所述多极限物位测量设备包括：

用于获取测量数据的多极限物位传感器装置；

评估单元，所述评估单元用于使用第一测量数据评估方法评估所获取的测量数据的至少第一子集以检测所述极限物位，并且用于使用不同的第二测量数据评估方法评估所获取的测量数据的至少第二子集以检测所述极限物位；

壳体，所述壳体具有端部区域和隔膜，所述端部区域(104)用于浸入到填充介质(102)中，

其中，所述壳体的该端部区域具有单截面区域并且因此不以分叉的方式延伸；

其中，所述多极限物位测量设备构造成检查所述第一测量数据评估方法的结果和所述第二测量数据评估方法的结果是否匹配，并且如果匹配，则输出结果。

2.根据权利要求1所述的多极限物位测量设备，其中，所述多极限物位传感器装置包括振动致动器，所述振动致动器附接至所述壳体的所述端部区域(104)的内侧以将振动传输到所述壳体的所述端部区域。

3.根据权利要求2所述的多极限物位测量设备，其中，所述隔膜(203)装配在所述壳体的所述端部区域中并且构造成获得来自所述振动致动器的振动。

4.根据权利要求1或2所述的多极限物位测量设备，其中，所述多极限物位传感器装置包括用于获得所述测量数据的所述第一子集的应变计。

5.根据权利要求1或2所述的多极限物位测量设备，其中，所述多极限物位传感器装置包括用于获得所述测量数据的所述第二子集的振动传感器。

6.根据权利要求1或2所述的多极限物位测量设备，其中，所述多极限物位传感器装置包括雷达传感器、电容传感器、阻抗传感器、光学传感器、温度传感器或电导率传感器，以获得所获取的测量数据的所述第一子集或所述第二子集。

7.根据权利要求1或2所述的多极限物位测量设备，其中，所述多极限物位传感器装置包括位于所述壳体内的第一极限物位传感器和第二极限物位传感器以用于检测所述极限物位。

8.一种评估单元，所述评估单元用于根据权利要求1-7中的任一项所述的多极限物位测量设备以使用至少两种不同的测量数据评估方法来检测极限物位，

其中，所述至少两种不同的测量数据评估方法中的每种测量数据评估方法都配置成检测所述极限物位，

其中，所述评估单元构造成使用第一测量数据评估方法来评估所获取的测量数据的至少第一子集以检测所述极限物位，并且构造成使用不同的第二测量数据评估方法来评估所获取的测量数据的至少第二子集以检测所述极限物位，

其中，所述评估单元构造成检查所述第一测量数据评估方法的结果和所述第二测量数据评估方法的结果是否匹配，并且如果匹配，则输出结果。

9.一种用于使用至少两种不同的测量数据评估方法通过根据权利要求1-7中的任一项所述的多极限物位测量设备检测极限物位的方法，所述方法包括下述步骤：

由所述多极限物位传感器装置获取测量数据；

使用第一测量数据评估方法来评估所获取的测量数据的至少第一子集以检测所述极限物位；

使用第二测量数据评估方法来评估所获取的测量数据的至少第二子集以检测所述极限物位；

检查所述第一测量数据评估方法的结果和所述第二测量数据评估方法的结果是否匹配；以及

如果所述第一测量数据评估方法的结果与所述第二测量数据评估方法的结果匹配，则输出结果，

其中，所述第一测量数据评估方法和所述第二测量数据评估方法为不同的方法。

10.一种计算机可读介质，在所述计算机可读介质上存储有程序元件，所述程序元件当在多极限物位测量设备的处理器(706)上执行时命令所述多极限物位测量设备执行根据权利要求9所述的方法的步骤。