[发明专利]一种荧光分析仪光学系统无效
| 申请号： | 201410250599.4 | 申请日： | 2014-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN104034709A | 公开（公告）日： | 2014-09-10 |
| 发明（设计）人： | 李义;韩哈斯敖其尔 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 田春梅 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 分析 光学系统 | ||
1.一种荧光分析仪光学系统，其特征在于：包括：激光反射镜座(1)、激光反射镜(2)、反射镜(4)、反射镜压板(5)、反射镜座(12)、镜座(6)、物镜组、像镜组，其中所述激光反射镜(2)固定在所述激光反射镜座(1)上，所述激光反射镜座(1)固定在所述反射镜座(12)上，所述反射镜压板(5)和所述反射镜座(12)将所述反射镜(4)固定在所述镜座(6)的前部，且所述反射镜(4)中心具有一45°的斜孔，所述物镜组固定在所述镜座(6)的下部，所述像镜组固定在所述镜座(6)的背部且所述像镜组中包含一个二色镜，检测激光束照射到所述激光反射镜(2)后穿过所述反射镜(4)中心的45°斜孔入射到所述物镜组，透过所述物镜组的光再由所述反射镜(4)反射后照射到所述像镜组中。
2.如权利要求1所述的荧光分析仪光学系统，其特征在于：所述像镜组依次由像镜组透镜(14)、像镜组隔圈(13)、像镜组透镜(14)、像镜组小镜座(15)、二色镜(16)和像镜组压圈(17)压紧固定构成。
3.如权利要求1或2所述的荧光分析仪光学系统，其特征在于：所述物镜组由物镜组压圈(7)依次将激光扩束镜(8)、物镜组隔圈(9)、物镜组透镜(10)、物镜组隔圈(9)和物镜组透镜(10)压紧固定在物镜组小镜座(11)中构成。
4.如权利要求1或2所述的荧光分析仪光学系统，其特征在于：所述激光反射镜(2)通过粘贴方式固定在所述激光反射镜座(1)上，所述激光反射镜座(1)通过螺钉固定在所述反射镜座(12)上，所述物镜组通过所述物镜组小镜座(11)螺纹副旋入所述镜座(6)中。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410250599.4/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种汽车电器教学实验台
- 下一篇：一种用于煤炭电解加氢液化的煤炭预处理方法
