[发明专利]应用于电波暗室的信号检测系统

说明书

技术领域

本发明涉及信号测量技术领域，特别是涉及一种应用于电波暗室的信号检测系统。

背景技术

电波暗室是目前使用最为广泛的电磁兼容测试场地，在电磁兼容测试中，电波暗室的参数，如电压驻波比直接影响着测试数据的可靠性。目前电波暗室的电压驻波比检测方法，通常使用一个可以同步控制信号发射和信号接收的网络分析仪。发射信号端用同轴线跟发射天线连接，将接收天线接至前置放大器，然后用同轴线将前置放大器接到网络分析仪的接收端。

但是，由于发射和接收装置都在暗室外面，同轴线的长度通常较长，一般15米以上，过长的同轴线信号衰减很大，会降低测试准确度。

发明内容

基于此，有必要针对上述电波暗室的电压驻波比的检测方法，信号衰减很大，会降低测试准确度的问题，提供一种应用于电波暗室的信号检测系统。

一种应用于电波暗室的信号检测系统，包括前置放大器、信号处理装置、用于生成电磁波信号的梳状信号发生器、用于发送所述电磁波信号的发射天线和用于接收所述电磁波信号的接收天线，所述梳状信号发生器与所述发射天线连接，所述接收天线通过所述前置放大器与所述信号处理装置连接，所述前置放大器用于将所述接收天线接收的电磁波信号传输到所述信号处理装置。

上述应用于电波暗室的信号检测系统，通过与发射天线进行连接梳状信号发生器生成电磁波信号，可以全频段同时持续不断发送信号，且各频点信号幅度固定。无需调整梳状信号发生器的频率以及幅度，可节约测试时间，进而降低测试成本。此外无需将梳状信号发生器与信号处理装置连接，可降低信号衰减，进而提高信号测试的准确度。

附图说明

图1是本发明应用于电波暗室的信号检测系统第一实施方式的结构示意图；

图2是本发明应用于电波暗室的信号检测系统第二实施方式的结构示意图；

图3是本发明应用于电波暗室的信号检测系统的测试标准示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

请参阅图1，图1是本发明的应用于电波暗室的信号检测系统第一实施方式的结构示意图。

本实施方式的所述应用于电波暗室的信号检测系统，可包括前置放大器200、信号处理装置100、用于生成电磁波信号的梳状信号发生器400、用于发送所述电磁波信号的发射天线500和用于接收所述电磁波信号的接收天线300，梳状信号发生器400与发射天线500连接，接收天线300通过前置放大器200与信号处理装置100连接，前置放大器200用于将接收天线300接收的电磁波信号传输到信号处理装置100。

本实施方式所述的应用于电波暗室的信号检测系统，通过与发射天线进行连接梳状信号发生器生成电磁波信号，可以全频段同时持续不断发送信号，且各频点信号幅度固定。无需调整梳状信号发生器的频率以及幅度，可节约测试时间，进而降低测试成本。此外无需将梳状信号发生器与信号处理装置连接，可降低信号衰减，进而提高信号测试的准确度。

其中，对于电波暗室，可为电磁兼容测试所用的一个空间，所述空间为经过屏蔽设计的六面屏蔽体，在其内部覆盖有电磁波吸波材料，用来隔绝外界的电磁波。构造出一个无电磁波的环境。

对于梳状信号发生器400(梳状信号源)，可以持续稳定的发射连续等间隔的信号，由于其发射的信号等间隔，梳状信号发生器400与发射天线500连接，可发射一系列的等间隔信号。

优选地，梳状信号发生器400、发射天线500和接收天线300设置在电波暗室内。可对电波暗室场地驻波比、电波暗室归一化衰减等进行测试。

优选地，梳状信号发生器400可包括生成信号频率为1GHz至18GHz的梳状信号发生器，可生成电波暗室场地驻波比测试所需的电磁波信号。

优选地，梳状信号发生器400可包括生成信号频率为包括18MHz至30GHz的梳状信号发生器。可生成电波暗室归一化衰减测试所需的电磁波信号。

在一个实施例中，设置于电波暗室内的梳状信号发生器400通过同轴线缆与发射天线500连接。梳状信号发生器可放置在电波暗室的高架地板上。进一步地所述同轴线缆的长度小于或等于3米。

对于信号处理装置100，可包括频谱仪、接收机或网络分析仪等。

请参阅图2，图2是本发明的应用于电波暗室的信号检测系统第二实施方式的结构示意图。