[发明专利]死时间产生方法有效
申请号: | 201410251335.0 | 申请日: | 2014-06-09 |
公开(公告)号: | CN104020702A | 公开(公告)日: | 2014-09-03 |
发明(设计)人: | 陈杰;曾和平 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G05B19/042 | 分类号: | G05B19/042;G01J11/00 |
代理公司: | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人: | 郁旦蓉 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 时间 产生 方法 | ||
1.一种死时间产生方法,应用在雪崩光电二极管APD的探测中,利用屏蔽电信号对雪崩光电二极管APD的光电脉冲信号在预定拉低时间内进行屏蔽,从而使得光电脉冲信号不被响应,其特征在于,具有以下步骤:
(1)设定控制器中计数器的计数值,根据被设定所述计数值通过所述控制器中的内部时钟获得所述预定拉低时间;
(2)采集所述雪崩光电二极管APD发出的所述光电脉冲信号;
(3)当判断到所采集的光电脉冲信号一旦处于上升沿后,所述控制器对光电脉冲信号进行数据采集;
(4)当判断到所采集的光电脉冲信号一旦处于下降沿后,通过所述内部时钟开始计时所述预定拉低时间,同时,将所述屏蔽电信号的电平在所述预定拉低时间被形成低电平屏蔽电信号;
(5)将所采集的光电脉冲信号和所述低电平屏蔽电信号进行逻辑与运算,所述所采集的光电脉冲信号在所述预定拉低时间内不进行输出,所采集的光电脉冲信号不被响应;
其中,所述所采集的光电脉冲信号不被响应的死时间的长度等于所述计数值除以所述内部时钟的频率得到的时间长度。
2.根据权利要求1所述的死时间产生方法,其特征在于:
其中,所述内部时钟的频率通过晶振倍频后产生的频率确定,根据所述设定所述计数值步骤和所述计数值得到所述死时间。
3.根据权利要求1所述的死时间产生方法,其特征在于,还包括以下步骤:
所述雪崩光电二极管APD探测器通过接收由所述控制器发出的驱动信号被驱动开始工作。
4.根据权利要求1所述的死时间产生方法,其特征在于:
其中,所述控制器通过现场可编程逻辑阵列FPGA实现。
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