[发明专利]一种适用于M类PMU单元的同步相量测量方法有效

专利信息
申请号: 201410253799.5 申请日: 2014-06-09
公开(公告)号: CN104020352A 公开(公告)日: 2014-09-03
发明(设计)人: 刘灏;毕天姝 申请(专利权)人: 华北电力大学
主分类号: G01R25/00 分类号: G01R25/00
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人: 郑立明;郑哲
地址: 102206*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 适用于 pmu 单元 同步 测量方法
【权利要求书】:

1.一种适用于M类PMU单元的同步相量测量方法,其特征在于,该方法包括:

将针对相量因子的低通数字滤波器与离散傅立叶算法DFT相结合,计算得到消除频谱泄漏后的初始量测相量;

利用二阶泰勒级数对所述动态相量进行拟合,获得DFT平均化效应造成的量测误差,并基于该误差对所述初始相量进行补偿,获得精确的动态量测相量;

在相量上传处设置一针对M类相量量测单元PMU的低阶数字滤波器,将所述精确的量测相量作为输入,获得最终量测相量。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述针对相量因子的低通数字滤波器基于二阶泰勒级数的动态相量数学模型而获得;

所述动态相量参数包括幅值、相角、频率以及频率变化率。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述动态相量的数学模型公式为:

频率变化率ROCOF为:ROCOF=d/dt[f(t)]=Δf'(t);

其中,x(t)是信号的采样值,Xm(t)是相量幅值,f(t)是信号频率,是相量初相角,Δf(t)是频率偏移,Δf’(t)为Δf(t)的导数;

利用二阶泰勒级数来模拟相量参数的非线性变化波形,表示为:

Xm(t)=m2t2+m1t+m0

f(t)=p2t2+p1t+p0

ROCOF(t)=q2t2+q1t+q0

其中,m2=d2Xm(t)/dt2|t=0,m1=dXm(t)/dt|t=0,m0=Xm(0),p2=d2f(t)/dt2|t=0,p1=df(t)/dt|t=0,p0=f(0),q2=d2ROCOF(t)/dt2|t=0,q1=d ROCOF(t)/dt|t=0,q0=ROCOF(0)。

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