[发明专利]一种超声光栅位相振幅的定量测量方法

权利要求书

1.一种超声光栅位相振幅的定量测量方法，其特征在于包含以下步骤：

(1)光源发出的单色光经扩束准直后垂直于超声波传播方向照射超声光栅，经透镜变换后得到超声光栅的衍射频谱；

(2)记录超声光栅的衍射频谱，计算得到衍射频谱的衍射光强比重，代入衍射光强比重与超声光栅位相振幅的定量关系式，求出超声光栅的位相振幅；

所述的衍射光强比重与超声光栅位相振幅的定量关系式如下：

①当超声光栅为超声行波光栅时，超声光栅位相振幅的计算公式如下：

R₁为超声行波光栅的衍射光强比重；

②当超声光栅为超声驻波光栅时，超声光栅位相振幅的计算公式如下：

R₂为超声驻波光栅的衍射光强比重。

2.根据权利要求1所述的超声光栅位相振幅的定量测量方法，其特征在于：

所述的频谱衍射光强比重通过如下公式计算得到：

①当超声光栅为超声行波光栅时，在0,1级衍射的光强比重为：

R₁＝(I₀+I₁)/I_总；

②当超声光栅为超声驻波光栅时，在0～2级衍射的光强比重为：

R₂＝(I₀'+I₁'+I₂')/I_总'。

3.根据权利要求1所述的超声光栅位相振幅的定量测量方法，其特征在于：步骤(1)中所述的透镜为傅里叶透镜或普通凸透镜。

4.根据权利要求1所述的超声光栅位相振幅的定量测量方法，其特征在于：步骤(2)中所述的记录超声光栅的衍射频谱为通过摄像设备记录。

5.根据权利要求4所述的超声光栅位相振幅的定量测量方法，其特征在于：所述的摄像设备为CCD或CMOS摄像设备。