[发明专利]裸眼3D液晶显示屏模组参数的处理方法

说明书

技术领域

本发明涉及裸眼3D技术领域，具体而言，涉及裸眼3D液晶显示屏模组参数的处理方法。

背景技术

裸眼3D液晶显示屏模组是用于生产裸眼3D显示屏的关键部件。如图1示出了，用于笔记本的裸眼3D液晶显示屏模组的结构示意图。从图中可看出，裸眼3D液晶显示屏模组主要包括背光源、薄膜晶体管TFT玻璃、驱动集成电路IC与印刷电路板、2D/3D切换开关及液晶高分子聚合物LCP。在裸眼3D液晶显示屏模组的生产过程中，3D效果检测是整个生产过程中的关键环节，而检测3D效果的主要手段为通过检测LCP的相关技术参数，如光栅倾斜角度Cot、光栅节距像素t₀及放置距离f等。

目前，裸眼3D液晶显示屏模组3D效果的检测校正方法如图2所示，设置放置有成像白板的步进电机、步进电机的导轨、控制步进电机的PLC以及用于抓取成像白板上成像的摄像头，将PLC及摄像头与主控设备连接，利用主控设备控制裸眼3D液晶显示屏模组在成像白板上成像并根据成像的结果确定当前位置上的最佳Cot；利用步进电机的导轨移动裸眼3D液晶显示屏模组在不同的位置上成像，根据裸眼3D液晶显示屏模组在不同位置上的成像结果获取pitch值，根据获取的pitch值得到裸眼3D液晶显示屏模组的其它参数值，例如t₀值及f值，将得到的最佳Cot值、t₀值及f值烧录到当前的裸眼3D液晶显示屏模组中。重复上述步骤，分别获取每个裸眼3D液晶显示屏模组的最佳Cot值、t₀值及f值，并烧录到对应的显示屏模组。

可以看出，当前对裸眼3D液晶显示屏模组进行检测校正的过程中，需要利用上述的检测设备对每个裸眼3D液晶显示屏模组检测校正，检索校正过程重复繁琐。

发明内容

本发明的目的在于提供裸眼3D液晶显示屏模组参数的处理方法，以解决上述的问题。

在本发明的实施例中提供了裸眼3D液晶显示屏模组参数的处理方法，包括：分别获取多个裸眼3D液晶显示屏模组各自的最佳测试参数；其中，所述最佳测试参数包括：最佳光栅倾斜角度Cot值、最佳光栅节距像素值t₀值及最佳放置距离f；将每个最佳测试参数的平均值作为生产裸眼3D液晶显示屏模组的烧录值，其中，所述烧录值包括：烧录Cot值、烧录t₀值及烧录放置距离f；将所述烧录值烧录到欲生产的裸眼3D液晶显示屏模组的存储驱动电路中。

优选地，获取所述裸眼3D液晶显示屏模组的最佳Cot值，包括：根据裸眼3D液晶显示屏模组的光栅设计，获取Cot取值范围以及光栅节距Pitch取值范围；获取所述Cot取值范围及所述Pitch取值范围内的每组测试值对应的所述裸眼3D液晶显示屏模组的红绿分光图；将最佳的红绿分光图对应的Cot值确定为所述裸眼3D液晶显示屏模组的最佳Cot值。

优选地，获取所述裸眼3D液晶显示屏模组的最佳t₀值，包括：基于所述最佳Cot值，分别在设定的各个观看距离L下求取各自的最佳Pitch值；在每个所述最佳Pitch值下，按照公式L-Pitch＝t₀求取相应的t₀值；将求取的所述t₀值的均值作为所述裸眼3D液晶显示屏模组的最佳t₀值。

优选地，获取所述裸眼3D液晶显示屏模组的最佳f值，包括：在相互对应的各个L、最佳Pitch值及t₀值下，按照公式t₀/P_Pitch＝L/(L+f)求取各个f值，将求取的所述f值的均值作为所述裸眼3D液晶显示屏组的最佳f值，其中P_Pitch为排图节距。

优选地，所述根据裸眼3D液晶显示屏模组的光栅设计，获取Cot取值范围，包括：根据所述裸眼3D液晶显示屏模组的光栅设计倾斜角度，得到设计Cot值；基于所述设计Cot值，设置取值浮动范围，得到所述Cot取值范围。

优选地，根据裸眼3D液晶显示屏模组的光栅设计，获取Pitch取值范围，包括：根据所述裸眼3D液晶显示屏模组的光栅设计拱高值，得到设计Pitch值；基于所述设计Pitch值，设置取值浮动范围，得到所述Pitch取值范围。