[发明专利]一种长度测量方法及装置

说明书

本发明实施例提供一种长度测量方法及装置，其中一种长度测量方法包括：通过曲面触摸屏获取第一触点的坐标和第二触点的坐标；依据第一触点的坐标和第二触点的坐标，计算第一触点和第二触点之间的水平距离；依据第一触点的坐标和第二触点的坐标，计算第一触点和第二触点的垂直距离；通过水平距离和垂直距离，得到被测量物体的长度，实现自动测量被测量物体的长度。并且本发明实施例提供的长度测量方法应用于电子设备中，使得电子设备具有长度测量功能，用户在测量某个物体的长度时可以使用随身携带的包括曲面触摸屏的电子设备进行测量。

技术领域

本发明涉及物理参数测量技术领域，特别涉及一种长度测量方法及装置。

背景技术

长度是一维空间的度量，在量度二维空间中量度直线边长时，长度数值较大的为长。目前测量长度最常用的工具是刻度尺，但是在日常生活中不可能随身携带刻度尺，这样当用户需要测量某个物体的长度，而又未携带刻度尺时，需要为用户提供一个测量物体长度的工具以及使用该工具的测量方法。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种长度测量方法，将长度测量方法应用于电子设备中，使电子设备具有长度测量功能，这样用户在测量某个物体的尺寸时可以使用随身携带的电子设备进行测量。

本发明实施例还提供一种长度测量装置，用以保证上述方法在实际中的实现及应用。技术方案如下：

本发明实施例提供一种长度测量方法，应用于电子设备中，所述电子设备包括曲面触摸屏，所述方法包括：

通过所述曲面触摸屏获取第一触点的坐标和第二触点的坐标，其中所述第一触点为被测量物体的第一端点在所述曲面触摸屏上形成的触点，所述第二触点为所述被测量物体的第二端点在所述曲面触摸屏上形成的触点，所述第一端点和所述第二端点为所述被测量物体的两个端点；

依据所述第一触点的坐标和所述第二触点的坐标，计算所述第一触点和所述第二触点之间的水平距离；

依据所述第一触点的坐标和所述第二触点的坐标，计算所述第一触点和所述第二触点的垂直距离；

通过所述水平距离和所述垂直距离，得到所述被测量物体的长度。

优选地，所述曲面触摸屏为单向曲面触摸屏，且所述单向曲面触摸屏中Y轴方向为曲面；

依据所述第一触点的坐标和所述第二触点的坐标，计算所述第一触点和所述第二触点之间的水平距离，包括：

获取所述第一触点的X轴坐标X1和所述第二触点的X轴坐标X2，依据公式X3＝|X2-X1|得到所述第一触点和所述第二触点之间的水平距离X3；

依据所述第一触点的坐标和所述第二触点的坐标，计算所述第一触点和所述第二触点的垂直距离，包括：

获取所述第一触点的Y轴坐标Y1和所述第二触点的Y轴坐标Y2；

依据公式a＝360×((|Y2-Y1|)/(2×π×R))得到所述第一触点和所述第二触点在所述Y轴坐标方向形成的曲线的夹角a，其中R为所述单向曲面触摸屏的半径；

依据公式h＝2×(R×sin(a/2))得到所述第一触点和所述第二触点之间的垂直距离h。

优选地，所述曲面触摸屏为单向曲面触摸屏，且所述单向曲面触摸屏中X轴方向为曲面；

依据所述第一触点的坐标和所述第二触点的坐标，计算所述第一触点和所述第二触点之间的水平距离，包括：

获取所述第一触点的X轴坐标X1和所述第二触点的X轴坐标X2；

依据公式a＝360×((|X2-X1|)/(2×π×R))得到所述第一触点和所述第二触点在所述X轴坐标方向形成的曲线的夹角a，其中R为所述单向曲面触摸屏的半径；