[发明专利]一种高干扰小区的定位方法及装置在审

专利信息
申请号: 201410262234.3 申请日: 2014-06-12
公开(公告)号: CN105228172A 公开(公告)日: 2016-01-06
发明(设计)人: 徐晓东;陈翼翼;崔航 申请(专利权)人: 中国移动通信集团公司
主分类号: H04W24/00 分类号: H04W24/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;黄灿
地址: 100032 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 干扰 小区 定位 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及通信领域,尤其涉及一种高干扰小区的定位方法及装置。

背景技术

在现有技术中,对于高干扰小区,通常基于栅格化小区测算重叠覆盖系数和主动干扰系数来进行定位,具体步骤如下所示:

步骤1:将评估区域栅格化,如图1所示,针对每个栅格,利用扫频数据统计栅格内接收到的每个小区的平均信号强度,若某一栅格接收到的小区A的平均信号强度为小区A的最强信号或与小区A的最强信号之差小于Thresh1,则对于该栅格来说,小区A为其潜在服务小区,所有满足该条件的栅格数记为Na。

步骤2:在步骤1的基础上,若某一栅格接收到的小区B的平均信号强度与接收到的小区A的平均信号强度之差小于Thresh2,则对于该栅格来说,小区B为该栅格的干扰小区,所有满足该条件的栅格数记为Mb。同样的方法可以计算出Mc、Md......Mn。

步骤3:定义干扰小区B对小区A的干扰比例P(a,b)=Mb/Na。则可计算出小区A的重叠覆盖系数=∑iP(a,i),其中,i为所有对小区A造成干扰的小区,该参数表征小区A被干扰的严重程度,干扰小区B的主动干扰系数=∑jP(j,b),其中,j为所有受到干扰小区B干扰的小区,该参数表征干扰小区B作为干扰源的严重程度。

步骤4:依据“重叠覆盖系数”评估覆盖重叠度,依据“主动干扰系数”定位高干扰小区,针对问题小区进行精细化的优化。

上述现有技术,虽然计算过程直观易理解,但计算过程繁复、计算量大,并且利用扫频数据来分析网络问题周期长、自动化程度低,不适宜规模日渐扩大的网络。

发明内容

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种高干扰小区的定位方法及装置,通过分析服务小区内的信噪比,定位高干扰小区,分析方法快速准确,便于大规模组网后快速分析定位网络结构问题。

为了实现上述目的,本发明提供了一种高干扰小区的定位方法,包括:获取服务小区内多个采样点处的信噪比的中值;根据所述信噪比的中值,确定所述服务小区的高干扰小区。

上述高干扰小区的定位方法,其中,获取服务小区多个采样点处的信噪比的中值的步骤包括:获取所述服务小区的多个采样点处的第一参考信号功率以及所述服务小区的所有邻区在多个采样点处的第二参考信号功率;根据所述多个采样点处的第一参考信号功率以及所述第二参考信号功率,确定所述多个采样点处的信噪比的中值。

上述高干扰小区的定位方法,其中,根据所述多个采样点处的第一参考信号功率以及所述第二参考信号功率,确定所述多个采样点处的信噪比的中值的步骤包括:根据所述第一参考信号功率以及所述第二参考信号功率,确定所述服务小区的每一个采样点处的信噪比;根据每一个采样点处的信噪比,确定所述多个采样点处的信噪比的中值。

上述高干扰小区的定位方法,其中,根据所述第一参考信号功率以及所述第二参考信号功率,确定所述服务小区的每一个采样点处的信噪比的步骤包括:通过下述公式确定采样点处的信噪比:其中,SIRscell_i(k)为服务小区SCell_i的第k个采样点处的信噪比,K为所述服务小区SCell_i中的采样点的个数,RSRPscell_i(k)为所述服务小区SCell_i在第k个采样点处的第一参考信号功率,RSRPncell_i(k,j)为所述服务小区SCell_i的第j个邻区在第k个采样点处的第二参考信号功率,为所述服务小区SCell_i的所有邻区在第k个采样点处的第二参考信号功率之和。

上述高干扰小区的定位方法,其中,根据每一个采样点处的信噪比,获得所述多个采样点处的信噪比的中值的步骤包括:通过公式:确定多个采样点处的信噪比的中值;其中,为服务小区SCell_i的K个采样点处的信噪比的中值。

上述高干扰小区的定位方法,其中,根据所述信噪比的中值,确定所述服务小区的高干扰小区的步骤包括:根据所述信噪比的中值,确定与所述信噪比的中值相差一预设第一数值的信噪比对应的采样点的集合,作为第一采样点集合;根据所述第一采样点集合中所有采样点处的第一参考信号功率以及第二参考信号功率,确定所述服务小区的高干扰小区。

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