[发明专利]一种考虑整体度量的实测光谱曲线中异常光谱的剔除方法

权利要求书

1.一种考虑整体度量的实测光谱曲线中异常光谱的剔除方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1)，对实测光谱曲线进行预处理；

步骤2)，计算经预处理的实测光谱曲线与标准光谱集平均光谱之间的局部度量和整体度量，并将计算结果归一化到0-1之间，所述局部度量包括欧氏距离ED和余弦角CA，所述整体度量包括光谱信息散度SID；

步骤3)，依据上述经归一化到0-1之间的欧氏距离ED、余弦角CA和光谱信息散度SID的值，计算表达式(ED×SID)/CA的值；

步骤4)，设定异常光谱阈值，表达式(ED×SID)/CA的值中位于所述异常光谱阈值之上的点即为异常光谱。

2.根据权利要求1所述的一种考虑整体度量的实测光谱曲线中异常光谱的剔除方法，其特征在于：所述步骤1)对实测光谱曲线进行预处理，包括三个步骤11)去除水气影响波段，12)采用多项式平滑滤波，滤除原始光谱中高频噪声，13)包络线去除。

3.根据权利要求1所述的一种考虑整体度量的实测光谱曲线中异常光谱的剔除方法，其特征在于：所述步骤2)中所述局部度量和所述整体度量的计算方法为：经预处理的所述实测光谱曲线包括光谱曲线X和光谱曲线Y，各个所述光谱曲线X和所述光谱曲线Y均包含n个波段，即X＝(x₁,x₂,x₃,…x_n),Y＝(y₁,y₂,y₃,…y_n)，

所述欧氏距离ED(X,Y)=Σi=1n(xi-yi)2,]]>

所述余弦角CA(X,Y)=Σi=1nxiyiΣi=1nxi2Σi=1nyi2,]]>

所述光谱信息散度SID(X,Y)=Σi=1n(xiΣi=1nxi-yiΣi=1nyi)log(xiΣi=1nxi/yiΣi=1nyi).]]>