[发明专利]电子设备的数据处理性能的测试方法及装置

权利要求书

1.一种电子设备的数据处理性能的测试方法，其特征在于，包括：

接收开始测试指令；

响应所述开始测试指令，记录当前的第一系统时间，并执行对电子设备的数据处理性能的测试；

在测试完毕后，记录当前的第二系统时间；

依据所述第二系统时间和所述第一系统时间之差，确定所述电子设备的数据处理性能；

其中，执行对电子设备的数据处理性能的测试，包括：

通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，其中，所述预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器，包括：每个所述符合预定大小的文件以至少一个数据块的方式写入到所述存储器中，各个所述数据块不同，并且，每一文件的本次待写入的数据块经过第一加工方式处理得到所述文件对应的下一次待写入的数据块；在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，包括：

通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件；

在所述一个文件存储完成后，判断已写入所述存储器的数据是否为预定测试量，如果是，结束通过I/O接口向存储器写入数据的操作；否则，继续执行通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的步骤。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程，包括：

生成随机数据，将所述随机数据确定为第一数据块，所述第一数据块不大于所述预定大小；

对所述第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块；

将本次待写入的数据块通过I/O接口写入存储器；

判断已写入所述存储器中的关于本次待写入文件的数据量是否达到所述预定大小，如果否，对本次待写入的数据块经过第一加工方式处理，得到下一次待写入的数据块；

如果是，结束通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据，包括：

通过I/O接口从所述存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件；

在所述当前待读取的文件读取完毕后，判断所述当前待读取的文件是否为所述至少一个符合预定大小的文件中的最后一个文件，如果是，结束读取已写入的数据的过程；否则，将所需读取的下一个文件作为当前待读取的文件，继续执行通过I/O接口从存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件的步骤。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，

所述通过I/O接口从所述存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件的过程，包括：

通过I/O接口从所述存储器中读取当前待读取的文件的数据块；

对所读取出的数据块经过第二加工方式处理；

并在经过第二加工方式处理后，继续通过I/O接口从所述存储器中读取当前待读取的文件的下一数据块，直到所述当前待读取的文件的所有数据块被读取完毕。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预定大小为5M-25M。