[发明专利]一种TD-LTE无线信号频谱检测方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种信号频谱分析技术领域，具体涉及一种TD-LTE无线信号频谱检测方法和系统。

背景技术

TD-LTE是一个TDD（timedivideduplex:时分双工）系统，无线信号在传输过程中都会受到干扰，使通信质量受到损失。解决无线干扰问题需要检测干扰无线电波的频谱特征及位置，定位干扰源。目前，TD-LTE采用时分双工的技术；上行，下行，干扰信号均在一个带宽中，因此在寻找干扰源时，一般采用暂时关闭干扰附近周边基站的方式，检测背景干扰噪声信号频谱特征，进一步定向定位干扰源位置，进行解决；然而商用后TD_LTE网络，关闭基站势必会正在进行的大量通讯造成影响，因此需要寻找出一个可以在正常情况下分离检测出背景信号频谱的方案。

发明内容

本发明为克服现有频谱测量技术中，TD-LTE无线信号在进行信号分析时，难以将上行信号、下行信号以及背景噪声等区分开，提供一种TD-LTE无线信号频谱检测方法，该检测方法能够将TD-LTE中的各种信号进行分离，有利于背景信号分析。

本发明还提供了一种用于分析检测TD-LTE无线信号频谱的系统；该系统可对TD-LTE的信号及无线背景噪声频谱进行分析。

本发明采用的技术方案为：

一种TD-LTE无线信号频谱检测方法，包括以下步骤：

步骤1：采集t秒的TD-LTE无线信号；TD-LTE无线信号强度以时序方式排列；

步骤2：将采集的TD-LTE无线信号以12.5*N纳秒为1个chip进行分割，其中1<=N<=80000000，N属于自然数；

步骤3：对每个chip位置进行依次排序标号，标号为：1、2……X；X为自然数，chip单元信息和位置标号信息一同对应依次存放于存储单元；采集和存储同步进行；存储相对于采集有延时滞后；

步骤4：准授时同步模块每整秒瞬间输出脉冲信号到信号处理单元（DSP），信号处理单元（DSP）在收到同步脉冲瞬间，对存储单元内对应的正在存储的chip位置进行标记，得到某一秒的对齐整秒同步的chip序号Xt0，并将该秒内的chip作为采集对象；Xt0为该秒内chip单元的第一个对应位置标号；

步骤5：信号延时监测：按排序依次取N个chip零散数据组，进行FFT快速傅立叶变换，得到频域的频谱及相应振幅；寻找出第一个与辅同步SSS时域相符合的chip单元，该chip单元对应的标号为Xss；以及第一个与主同步PSS时域频谱相符合的chip单元，该chip单元对应的标号为Xps，（以标号从小至大的顺序寻找），同时满足Xps—Xss=2*（10⁷/（12.5*N*14））；

步骤6：依据TD_LTE帧结构特点，采集到的时域零散信号分割后，Xt0为该秒内chip单元的第一个对应位置标号，下一个同步脉冲对应存储的chip前一个chip为最后一个采集chip；采集时间范围内任意chip的位置标号对应的函数可表示为f(T)=K*10⁷/(12.5*N)+Z*10⁷/(12.5*N*14)+T—（Xss—Xt0）+P；

N=1、2、3、…,N属于小于80000000的自然数，

K=0、1、2、…,K属于小于100的整数,

z=0、1、2、…,z属于整数,

P误差修正参数，P属于大于-1000且小于1000的整数；

为小于10⁷/(12.5*N*14)的整数；

步骤7：选取符合以下位置函数范围的chip依时序排列重新组合成为数组：

背景噪音对应chip所在位置为：

f(T)_GP=10⁷*K/(12.5*N)+10⁷*Z/(12.5*N*14)+T—(Xss—Xt0)+P；

其中z=10、11……140*(n-1)+10,140*(n-1)+11；T=0、1……10⁷*K/(12.5*N)；

下行导频信号对应chip所在位置为：

f(T)_dwpts=10⁷*K/(12.5*N)+10⁷*Z/(12.5*N*14)+T—(Xss—Xt0)+P；