[发明专利]一种拉曼光谱检测头和检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及光学检测领域，尤其涉及一种拉曼光谱检测头和检测方法。

背景技术

拉曼散射是光通过介质时由于入射光与分子运动相互作用而引起的频率发生变化的散射，拉曼光谱经常用来表征分子的结构特征，也被称为分子的“指纹谱”。拉曼光谱技术分析手段主要有傅里叶变换、高温、共振、表面增强、共焦显微、固体光声等技术。拉曼光谱在许多领域有着广泛的应用，尤其是其可以提供快速、简单、无损、可重复的定性定量分析技术，无需繁琐的前处理步骤，避免了对样品的破坏，实现了筛查速度的快速化。当然拉曼技术也存在一些不足，如谱峰易重叠，易受仪器参数等因素的影响，当测定具有荧光性的物质时，会产生荧光干扰，拉曼效应太弱，约为入射光强的10-6倍。虽然纳米技术的快速发展为拉曼光谱检测提供了新的方向，但是借助于纳米技术来增强拉曼信号较弱的限制还有待于深入的研究。

在现有技术中，只能利用拉曼技术进行点光谱检测，由于拉曼信号比较微弱，且荧光背景信号比较强，因此虽然拉曼光谱对于物质的化学键识别具有很大的优势，但是往往由于检测限不能达到标准方法，即气相光谱及液相光谱测定的最低含量检测限，导致在定量分析上还存在明显的不足和劣势。并且，拉曼光谱的检测装置较为复杂，对光路要求较高，且不便于移动，对拉曼检测的实际应用造成了一定的阻碍。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明提供拉曼光谱检测头和检测方法，以解决现有技术中拉曼技术只能进行点光谱检测，且检测装置不便于移动的技术问题。

(二)技术方案

为解决上述技术问题，本发明提供一种拉曼光谱检测头，包括：遮光罩，所述遮光罩包括狭缝和检测镜，所述狭缝用于令拉曼散射光出射至样品，并令所述样品表面产生的信号光射入，所述检测镜用于出射所述信号光；

所述遮光罩内还包括：

激光线光源，用于发射线状激光；

过滤滤光片，用于过滤所述线状激光中的瑞利散射光，剩余拉曼散射光；

分束滤光片，用于将经过所述过滤滤光片的拉曼散射光反射至扫描镜，并令扫描镜反射回的信号光通过所述检测镜出射；

扫描镜，所述扫描镜通过往复振动的方式反射经过所述分束滤光片反射的拉曼散射光，以获取均匀的线状拉曼散射光，使其通过所述狭缝出射至样品表面，并将经狭缝射入的样品表面产生的拉曼检测的信号光反射至所述分束滤光片。

进一步地，所述激光线光源和所述过滤滤光片之间还包括：

准直透镜，用于将所述激光线光源发射的线状激光准直汇聚为均匀的平行光。

进一步地，所述激光线光源为：

785nm激光线光源，最大输出功率5w，最大输出1mm×20cm长的激光线。

进一步地，

所述激光线光源包括多个排成一排的激光点光源。

进一步地，

所述激光线光源中包括9个排成一排的激光点光源。

进一步地，

所述激光线光源、准直透镜、过滤滤光片和分束滤光片依次分布在一条直线上；

所述扫描镜、分束滤光片和检测镜依次分布在与所述直线垂直的另一条直线上；

所述扫描镜和分束滤光片相互平行，分别与这两条直线成45度夹角。

进一步地，所述遮光罩还包括：

提手，用于移动和携带所述检测头。

另一方面，本发明还提供一种拉曼光谱检测方法，利用如上任一项所述的拉曼光谱检测头进行拉曼光谱检测，包括：

通过激光线光源发射线状激光；

利用过滤滤光片过滤所述线状激光中的瑞利散射光，剩余拉曼散射光；

将过滤后的拉曼散射光利用分束滤光片反射至扫描镜；

利用扫描镜通过往复振动的方式反射所述拉曼散射光，得到均匀的线状拉曼散射光，将均匀的线状拉曼散射光通过遮光罩的狭缝出射至样品表面；

令均匀的线状拉曼散射光照射在样品表面产生的拉曼检测的信号光通过狭缝入射至扫描镜，利用扫描镜反射所述信号光经分束滤光片后通过遮光罩上的检测镜出射。

(三)有益效果

可见，在本发明提供的拉曼光谱检测头和检测方法中，将激光线光源、过滤滤光片、分束滤光片和扫描镜集成于拉曼光谱检测头的遮光罩中，提供了一种便携式的集成拉曼光谱检测头，能够对样品进行快速移动检测和信号采集。并且，本发明通过线状激光对样品进行检测，解决了现有技术的拉曼检测技术中只能进行点光谱检测的技术问题，具有很高的应用价值。

附图说明