[发明专利]一种立靶精度测试系统及测试方法有效

专利信息
申请号: 201410269764.0 申请日: 2014-06-17
公开(公告)号: CN104154827A 公开(公告)日: 2014-11-19
发明(设计)人: 李翰山 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: F42B35/02 分类号: F42B35/02
代理公司: 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 代理人: 葛强;邬玥
地址: 710021 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 精度 测试 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及靶场测试领域,具体地涉及一种立靶精度测试系统及相应的测试方法。 

背景技术

在动态目标参数测试中,目标运动的飞行偏向角度和目标着靶坐标位置的测量一直是枪、炮、弹等研制的核心测试参数,其制约着武器弹药研制的发展,传统的测试方法有光幕靶交汇测试方法、天幕靶交汇测试方法、线阵CCD交汇测试方法、阵列激光传感器测试方法等。这些测试方法依据测试原理的不同,设计的结构也不相同。光幕靶交汇测试方法采用单一结构体设计方法,采用发射与接收对称的安装方法,利用目标穿过发射与接收形成的探测光幕,获取探测接收器变化的信息,经信息处理后获得相应的及时脉冲信号,再通过数据处理系统获得飞行目标的坐标参数,这种测试方法由于结构体的限制通常测试靶面比较小,一般小于2m×2m,在小靶面条件下,测试精度较高,如果靶面增大,结构体的发射与接收的传感器数量增多,发射与接收对准困难,同时,大靶面条件下的阵列接收探测器由于传感器数量多使得探测电路的信噪比降低,探测灵敏度和测试精度下降,另外,大靶面条件下测试系统框架结构比较大,不利于搬动等;天幕靶交汇测试系统的探测天幕阵列通常采用多个独立的结构体,在测试的弹道上一次布置探测天幕独立结构体,再结合采集处理系统获取坐标参数,天幕靶交汇系统采用单元天幕靶探测光幕交汇而成的天幕阵列,其探测灵敏度高,探测靶面比较大,对野外高空大靶面的测试比较便利,但是,随着测试的参数增多,所需要的探测光幕数量增多,如仅测量坐标需要四个探测天幕靶,测试坐标和偏向角度需要采用至少六个天幕靶等,使得独立单元的结构体在现场布置中比较困难,同时也给测试系统的标定带来困难,不利于现场标定,测试精度下降;线阵CCD交汇测试方法采用双目视觉的测试原理,两个对称的线阵CCD相机交汇形成探测靶面,其在小靶面条件下测试精度比较高,有利于小靶面环境下的测试,但在大靶面的条件下由于外场条件的不确定因素多,给测试系统的标定带来很大困难,降低了系统测试精度,同时,线阵CCD交汇测试方法在同一个探测面中仅获得目标的坐标位置,无法获得目标的飞行偏向角度,如果需要测量飞行偏向角度,需要多个线阵CCD交汇组成而成,给现场的布置也带来一定的困难;阵列激光传感器测试方法同光幕靶交汇测试方法一样,采 用的是阵列发射激光与同波长的探测接收器形成探测光幕,也存在大靶面条件下发射与接收对准困难,测试精度不高、布置不便利等。 

发明内容

为了解决上述测试方法在外场试验中的不足,本发明提供一种一体化的立靶精度测试系统装置,该装置采用高灵敏度的光电探测光幕和线阵CCD探测光幕组合形成一体化的测试装置,具体而言,所述立靶精度测试系统包括探测靶体、供电电源、终端计算机,其中,供电电源为探测靶体提供电能,探测靶体通过电缆线将数据信号传输到终端计算机,其中,探测靶体相对枪炮发射目标的方向设置在弹道线的测试位置上,探测靶体包括外壳体、多个光学采集和处理单元、微处理计算机以及计时处理电路,其中,外壳体为中空结构且上表面设置成两端高中间低的凹陷结构,光学采集和处理单元设置在外壳体的上表面上,微型计算机和计时处理电路均设置在外壳体的内部。 

优选的是,外壳体的上表面包括第一水平面、第二水平面、第三水平面、第一斜面和第二斜面,其中第二水平面位于中间,第一水平面和第三水平面形状相同、水平高度相同且以第二水平面为中心对称地位于外壳体上表面的两端,第一水平面和第三水平面的水平高度大于第二水平面,此外,第一斜面和第二斜面分别位于第一水平面和第二水平面以及第二水平面和第三水平面之间,且分别将第一水平面和第二水平面以及第二水平面和第三水平面连接在一起。 

优选的是,所述光学采集和处理单元包括两种结构,分别是第一光学采集和处理单元和第二光学采集和处理单元,在第一水平面、第二水平面和第三水平面上均设置相同的第一光学采集和处理单元,在第一斜面和第二斜面上均设置一个相同的第二光学采集和处理单元。 

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