[发明专利]一种光谱测量方法、装置和系统有效

专利信息
申请号: 201410272739.8 申请日: 2014-06-18
公开(公告)号: CN104111114B 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 王自鑫;陈弟虎;蔡志岗;付可;杨利灿;王敏 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: G01J3/457 分类号: G01J3/457
代理公司: 广州新诺专利商标事务所有限公司44100 代理人: 张玲春
地址: 510275 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 光谱 测量方法 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种光谱测量方法,其特征在于包括以下步骤:

将待测光信号通过光学斩波器进行斩波处理后,转换为待测电信号,进一步转换为待测数字信号,以及,通过斩波控制器产生与所述待测电信号频率相同的参考信号;

将所述待测数字信号与参考信号相乘处理后,将相乘处理后的信号进行滤波得到第一信号;

根据所述第一信号计算待测数字信号的幅值。

2.如权利要求1所述的一种光谱测量方法,其特征在于:所述待测光信号被阻挡的时间与通过的时间的比值为其中n取大于1的整数。

3.如权利要求2所述的一种光谱测量方法,其特征在于:根据双相锁相方法计算出待测数字信号的幅值,或者待测数字信号的幅值和待测数字信号与参考信号之间的相位差。

4.一种光谱测量装置,其特征在于包括:

信号产生模块,将待测光信号通过光学斩波器进行斩波处理后,转换为待测电信号,进一步转换为待测数字信号,以及,通过斩波控制器产生与所述待测电信号频率相同的参考信号;

信号处理模块,用于将所述待测数字信号与参考信号相乘处理后,将相乘处理后的信号进行滤波得到第一信号;

计算模块,用于根据所述第一信号计算待测数字信号的幅值。

5.如权利要求4所述的一种光谱测量装置,其特征在于:所述待测光信号被阻挡的时间与通过的时间的比值为其中n取大于1的整数。

6.如权利要求5所述的一种光谱测量装置,其特征在于:根据双相锁相方法计算出待测数字信号的幅值,或者待测数字信号的幅值和待测数字信号与参考信号之间的相位差。

7.一种光谱测量系统,其特征在于:包括光路模块和锁相放大模块,其中:

所述光路模块包含有光学斩波器,待测光信号经过所述光学斩波器中进行斩波处理;

所述处理模块包括用于输出与所述待测电信号相同频率的参考信号的斩波控制器和相敏检测器,所述相敏检测器包括乘法器和第一滤波器,所述乘法器的输入端连接所述光路模块和斩波控制器,输出端与所述第一滤波器连接。

8.如权利要求7所述的一种光谱测量系统,其特征在于:所述光路模块还依次包括入射狭缝、反射镜、第一球面镜、平面衍射光栅,然后经第二球面镜聚焦于一CCD上。

9.如权利要求7或8所述的一种光谱测量系统,其特征在于:所述锁相放大模块还依次包括放大模块、第二滤波器、模数转换模块和控制器,所述控制器还分别与FIFO的输入和输出端连接,以及与缓存器连接。

10.如权利要求9所述的一种光谱测量系统,其特征在于:还包括显示模块,所述显示模块与所述控制器连接。

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