[发明专利]一种阵列基板检测设备

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，具体地，涉及一种阵列基板检测设备。

背景技术

在薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，以下简称为TFT-LCD)的制备工艺中，在玻璃基板上制备出多个阵列基板后，为保证产品的质量，需要采用检测设备对阵列基板中的像素进行检测，以避免在后续生产流程中，生产出存在缺陷的产品。

图1为现有的对阵列基板进行检测的示意图。如图1所示，在检测阵列基板1时，信号输入单元(图中未示出)运动至需要检测的阵列基板1上方，与设于玻璃基板2上，且分别与该阵列基板1的数据线和栅极线连接的多个检测端子3连接，并向该阵列基板1的数据线和栅极线输出数据信号和栅极信号等检测信号；同时，信号检测单元(图中未示出)运动至该阵列基板1上方，采集该阵列基板1上各像素的电学波形信号，确定该阵列基板1上的像素是否存在缺陷。

在实际应用中，由于对阵列基板1进行检测时，信号输入单元和信号检测单元均位于阵列基板1的上方，因此，信号检测单元采集阵列基板1上像素的电学波形信号时会受到信号输入单元的部分遮挡，导致其无法采集阵列基板1上被遮挡区域的电学波形信号，从而对于上述被遮挡区域，检测设备无法检测该区域内的像素是否存在缺陷，在此情况下，若上述区域的像素存在缺陷，则会导致产品的不良率提高。

此外，随着技术的发展，玻璃基板2的利用率越来越高，相邻的阵列基板1之间的间距越来越小，使相邻两个阵列基板1之间的间距不足以设置检测端子，如图2所示，在此情况下，将与多个阵列基板1对应的多组检测端子设置在位于一行的多个阵列基板1的左侧(或右侧)；在对阵列基板1进行检测的过程中，信号输入单元同时与多组检测端子3连接，向多个阵列基板1同时输入检测信号，从而实现对多个阵列基板1的同时检测。在实际应用中，若同时检测的多个阵列基板1中的像素均不存在缺陷，上述检测方法可以大幅提高对阵列基板1的检测效率，但在任意一个或多个阵列基板1中的像素存在缺陷时，检测设备无法在多个阵列基板1中准确地识别和区分出存在缺陷的像素所属的阵列基板1。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种阵列基板检测设备，其信号输入单元与多个阵列基板连接的线路上设有通断开关，使其可以单独地对其中任意一个阵列基板进行检测，使阵列基板检测设备可以准确地区分出像素存在缺陷的阵列基板。

为实现本发明的目的而提供一种阵列基板检测设备，包括信号输入单元和信号检测单元，所述信号输入单元与多个阵列基板连接，用以向多个所述阵列基板输入检测信号，所述信号检测单元用于采集所述阵列基板中各像素的电学波形信号，并确定阵列基板上的像素是否存在缺陷，每个所述阵列基板和所述信号输入单元之间均连接有通断开关。

其中，连接于多个所述阵列基板和所述信号输入单元之间的多个通断开关依次开启，以分别对多个所述阵列基板进行检测。

其中，所述信号输入单元包括与所述阵列基板的数据线连接的数据信号子单元和与所述阵列基板的栅极线连接的栅极信号子单元；所述数据信号子单元用于向所述阵列基板的数据线输入数据信号；所述栅极信号子单元用于向所述阵列基板的栅极线输入栅极信号；所述通断开关包括第一通断开关和第二通断开关，所述第一通断开关连接于所述数据信号子单元和所述阵列基板的数据线之间，所述第二通断开关连接于所述栅极信号子单元和所述阵列基板的栅极线之间。

其中，所述第一通断开关和所述第二通断开关均为薄膜晶体管；所述第一通断开关的源极与所述数据信号子单元连接，所述第一通断开关的漏极与所述阵列基板的数据线连接，所述第一通断开关的栅极与控制器连接，所述控制器通过向所述第一通断开关的栅极加载正电压或负电压，控制所述第一通断开关开启或关闭；所述第二通断开关的源极与所述栅极信号子单元连接，所述第二通断开关的漏极与所述阵列基板的栅极线连接，所述第二通断开关的栅极与所述控制器连接，所述控制器通过向所述第二通断开关的栅极加载正电压或负电压，控制所述第二通断开关开启或关闭。

其中，所述第一通断开关和第二通断开关的栅极形成为一体，且与所述控制器连接。

其中，多个所述阵列基板所在的玻璃基板上设有多组检测端子，多组所述检测端子与多个所述阵列基板一一对应地连接，且多组所述检测端子与所述信号输入单元连接。

其中，每组所述检测端子包括至少一个与其对应的阵列基板的数据线连接的检测端子，和/或，至少一个与其对应的阵列基板的栅极线连接的检测端子。