[发明专利]一种高分子超薄膜相转变温度的测定方法有效
| 申请号： | 201410274669.X | 申请日： | 2014-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN104020185A | 公开（公告）日： | 2014-09-03 |
| 发明（设计）人： | 卢晓林;李柏霖 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01N25/04 | 分类号： | G01N25/04;G01N25/12 |
| 代理公司： | 江苏永衡昭辉律师事务所 32250 | 代理人： | 王斌 |
| 地址： | 210096*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 高分子 薄膜 转变 温度 测定 方法 | ||
1.一种高分子超薄膜相转变温度的测定方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一，两束脉冲的入射光照射在镀有高分子超薄膜的基底表面，产生二阶效应下的表面等离子体信号；
步骤二，逐步升高所述基底表面的温度，采集基底表面的等离子体信号强度；
步骤三，将温度与所述等离子体信号强度进行线性拟合，所得曲线的转折点确定为该超薄膜的相转变温度。
2. 根据权利要求1所述的高分子超薄膜相转变温度的测定方法，其特征在于，所述的基底为具有表面等离子体非线性光学响应的基底。
3.根据权利要求1所述的高分子超薄膜相转变温度的测定方法，其特征在于，所述的高分子超薄膜对于入射光及等离子体信号是透明的。
4.根据权利要求1所述的高分子超薄膜相转变温度的测定方法，其特征在于，所述的两束脉冲的入射光分别为可见光和红外光。
5.根据权利要求4所述的高分子超薄膜相转变温度的测定方法，其特征在于，所述的可见光波长为532纳米，所述的红外光波长为3226纳米到3333纳米。
6.根据权利要求1所述的高分子超薄膜相转变温度的测定方法，其特征在于，镀在基底上的高分子超薄膜，采用旋转涂覆、溶液浇注干燥或者层层自组装和吸附将高分子超薄膜镀于基底上。
7.根据权利要求1所述的高分子超薄膜相转变温度的测定方法，其特征在于，所述高分子超薄膜的厚度为几个纳米到几百个纳米。
8.根据权利要求1所述的高分子超薄膜相转变温度的测定方法，其特征在于，所述的相转变温度包括玻璃化转变温度、次级松弛温度和熔融温度。
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