[发明专利]投影取像架构在审
申请号: | 201410275840.9 | 申请日: | 2014-06-19 |
公开(公告)号: | CN105212893A | 公开(公告)日: | 2016-01-06 |
发明(设计)人: | 游进洲;陈俊民;廖政顺 | 申请(专利权)人: | 尚立光电股份有限公司;新华科技有限公司 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00 |
代理公司: | 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 | 代理人: | 肖鹂;王君 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 投影 架构 | ||
1.一种投影取像架构,包含:
侦测光源,用以提供侦测光线;
偏振分光镜,配置于所述侦测光线的传递路径上,用以反射所述侦测光线;
投影单元,进一步反射经由所述偏振分光镜反射的所述侦测光线,使得所述侦测光线穿透所述偏振分光镜后经由镜头投射至物体以产生影像光线;
处理单元;以及
影像感测单元,通过所述处理单元电性连接于所述投影单元,其中所述影像光线经由所述镜头射至所述偏振分光镜,以通过所述偏振分光镜反射所述影像光线至所述影像感测单元,且所述处理单元对所述影像光线进行影像处理以产生影像,利用所述投影单元将所述物体的所述影像经由所述镜头投影至所述物体上。
2.如权利要求1所述的投影取像架构,其中所述侦测光源为近红外光,所述侦测光源的波长范围介于700纳米至1400纳米。
3.如权利要求1所述的投影取像架构,其中所述投影单元还包含可见光源,用以提供所述投影单元投影所述影像时所需的光线。
4.如权利要求3所述的投影取像架构,其中所述可见光源的波长范围介于400纳米至700纳米。
5.如权利要求1所述的投影取像架构,其中所述侦测光线为沿着第一偏振方向的偏振光。
6.如权利要求5所述的投影取像架构,其中经由所述投影单元反射的所述侦测光线为沿着第二偏振方向的偏振光。
7.如权利要求6所述的投影取像架构,其中所述第一偏振方向与所述第二偏振方向正交。
8.如权利要求1所述的投影取像架构,其中所述投影单元为液晶LC投影显示器或数字光处理DLP投影显示器。
9.如权利要求1所述的投影取像架构,其中所述影像感测单元为电荷耦合组件CCD影像传感器或互补式金属氧化物半导体CMOS影像传感器。
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