[发明专利]干涉仪有效

专利信息
申请号: 201410278239.5 申请日: 2014-06-20
公开(公告)号: CN104236451B 公开(公告)日: 2018-05-18
发明(设计)人: M.迈斯纳;R.耶尔格;J.德雷舍尔;W.霍尔扎普费尔 申请(专利权)人: 约翰内斯·海德汉博士有限公司
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 陈浩然;谭祐祥
地址: 德国特劳*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 干涉仪
【权利要求书】:

1.一种干涉仪,其带有:

- 光源(10;LQ),

- 分束器(23;PBS),其将由所述光源(10;LQ)发射的第一光束分开成至少一个测量光束(M;M1,M2)和至少一个参考光束(R),其中,通过所述测量光束(M;M1,M2)和所述参考光束(R)展开第一分开平面(AE1),并且所述测量光束(M;M1,M2)在测量臂中而所述参考光束(R)在参考臂中传播直至在第一结合平面(VE1)中的结合地点(V)处再结合,其中,所述第一结合平面(VE1)平行于所述第一分开平面(AE1)定向,

- 测量反射器(30;130;230;MR),其布置在所述测量臂中并且与能够沿着测量方向(y)运动的测量对象(31;131;231)相连接,其中,所述测量光束(M;M1,M2)至少两次垂直地射到所述测量反射器(30;130;230;MR)上,

- 参考后向反射器(RR2;RR),其布置在所述参考臂中,其中,所述参考光束(R)至少一次射到所述参考后向反射器(RR2;RR)上,

- 探测器组件(40;DET),通过其能够从在所述结合地点(V)处叠加的干涉的测量光束(M;M1,M2)和参考光束(R)中关于所述测量对象(31;131;231)的位置检测至少一个第一距离信号,

- 透明的第一平板(21;121;221;P1)和透明的第二平板(22;122;222;P2),其在光路中彼此平行地布置在所述光源(10;LQ)与所述探测器组件(40;DET)之间,其中,所述测量反射器(30;130;230;MR)能够相对这两个平板(21;121;221;P1;22;122;222;P2)沿着所述测量方向(y)运动,以及

- 所述参考后向反射器(RR2;RR)构造在所述第一平板(21;121;221;P1)中而

- 所述分束器(23;PBS)布置在所述第二平板(22;122;222;P2)上。

2.根据权利要求1所述的干涉仪,其中,在所述第一平板(21;121;221;P1)中的所述参考后向反射器(RR2;RR)构造为衍射的后向反射器并且包括布置在所述第一平板(21;121;221;P1)的一侧上的至少一个格栅透镜和布置在所述第一平板(21;121;221;P1)的相对的侧面上的平的至少一个反射器,其反射侧向所述格栅透镜的方向定向,并且其中,通过至少一个所述格栅透镜实现射到其上的所述参考光束(R)偏转和聚焦到所述布置在所述第一平板(21;121;221;P1)的相对的侧面上的平的至少一个反射器上。

3.根据权利要求1所述的干涉仪,其中,所述第一平板(21;121;221;P1)此外具有至少一个延迟单元(VE),所述参考光束(R)沿着所述延迟单元传播并且所述延迟单元(VE)包括平的至少两个反射器,其布置在所述第一平板(21;121;221;P1)的相对的侧面处,其中,所述反射器的反射面分别向所述第一平板(21;121;221;P1)的相对的侧面的方向定向。

4.根据权利要求3所述的干涉仪,其中,所述参考光束(R)在所述第一平板(21;121;221;P1)中通过的至少一个所述延迟单元(VE)构造成使得所述参考光束(R)和所述测量光束(M;M1,M2)在分开和再结合之间在这两个平板(21;121;221;P1;22;122;222;P2)中通过相同的路程。

5.根据权利要求1所述的干涉仪,其中,在所述第二平板(22;122;222;P2)上的分束器(23;PBS)构造为偏光的分束层,其布置在所述第二平板(22;122;222;P2)的第一侧面上,并且其中,该侧面向所述第一平板(21;121;221;P1)的方向定向。

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