[发明专利]有机发光显示设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种有机发光显示设备，并且更具体地，涉及一种用于提高对比度的有机发光显示设备。

背景技术

近来，随着多媒体的发展，平板显示(FPD)设备的重要性正在增加。因此，诸如液晶显示(LCD)设备、等离子体显示面板(PDP)设备和有机发光显示设备的各种FPD设备正在被实际使用。在这些FPD设备中，有机发光显示设备具有1ms或者更小的快速响应时间和低功耗，并且在视角方面没有显示，因为有机发光显示设备自发光所以。因此，作为下一代FPD设备，有机发光显示设备正备受关注。

现有技术的有机发光显示设备包括显示图像的多个像素。所述多个像素中的每一个像素均包括形成在阳极与阴极之间的有机发光层以及从有机发光器件发光的像素电路。像素电路包括开关晶体管、驱动晶体管和电容器。根据用于向驱动晶体管提供数据电压的开关信号使开关晶体管导通。驱动晶体管利用从开关晶体管提供数据电压导通，并且控制流到有机发光器件的电流以控制来自有机发光器件的光的发射。电容器存储驱动晶体管的栅极与源极之间的电压，并且通过使用存储的电压使驱动晶体管导通。有机发光器件利用从驱动晶体管提供的电路发光。

然而，在现有技术的有机发光显示设备中，由于工艺差别导致出现了驱动晶体管的特性差异(诸如阈值电压(Vth)和移动性)，并且出于这种原因，驱动有机发光器件的电流量被改变，导致像素之间的亮度偏差。通常，驱动晶体管的特性差异导致针对画面的涂抹或者图案(smear or a pattern)，并且由于长时间驱动所导致的有机发光器件的劣化引起的特性差异减少了有机发光显示面板的使用寿命或者导致图像残留。作为解决每个像素的特性改变所导致的问题的方法，内部补偿技术和外部补偿技术是已知的。

内部补偿技术将补偿电路(包括至少一个补偿晶体管和至少一个补偿电容器)添加到每个像素的像素电路中，并且通过使用补偿电路来补偿每个像素的特性改变。然而，在内部补偿电路技术中，每个像素的孔径比(aperture ratio)由于被添加到每个像素中的补偿晶体管、补偿电容器和信号线而减小了。

外部补偿技术从像素的外部感测像素的特性改变，并且在像素的数据中反映感测到的特性改变，以补偿像素的特性改变。外部补偿技术在诸如韩国专利公开第10-2013-0066449号的现有技术参考中被公开。

如图1所示，现有技术参考通过第一晶体管M1将基准电压Vref施加至驱动晶体管DT的栅极n1并且同时通过第二晶体管M2将数据电压施加至驱动晶体管DT的源极n2，由此从有机发光器件OLED发光。在外部补偿中，现有技术参考通过第一晶体管M1将基准电压Vref施加至驱动晶体管DT的栅极n1，并且通过数据线D感测驱动晶体管的特性改变和/或有机发光器件OLED的特性改变，数据线D通过第二晶体管M2连接到驱动晶体管DT的源极n2。

现有技术参考的基准电压Vref被固定作为恒定的直流(DC)电压值。因此，现有技术参考将低数据电压施加至驱动晶体管DT的源极n2，从而实现高灰度，并且将高数据电压施加至驱动晶体管DT的源极n2从而实现低灰度。因此，在现有技术参考中，数据电压被施加至连接到有机发光器件OLED的驱动晶体管DT的源极n2，并且因此，当被施加至驱动晶体管DT的源极n2的数据电压高于有机发光器件OLED的阈值电压(Vth_OLED)时，有机发光器件OLED在像素的数据充电周期期间利用数据电压发光。

图2是示出在现有技术参考中、在一个单位像素中实现高灰度和低灰度的单位像素的数据电压的波形图。

在现有技术参考中，将参照共同图1和图2来描述用于实现高灰度和低灰度的数据电压。

首先，假设提供给每个像素的基准电压Vref被固定为16V并且有机发光器件OLED的阈值电压Vth_oled是6V，并且假设在第一水平周期1H中实现具有相对较高亮度的高灰度并且在第二水平周期2H中实现具有相对较低亮度的低灰度。