[发明专利]用于微观径迹的检测分析系统及检测方法在审

专利信息
申请号: 201410280932.6 申请日: 2014-06-20
公开(公告)号: CN104020174A 公开(公告)日: 2014-09-03
发明(设计)人: 马振东;朱军;崔亮;韩勇 申请(专利权)人: 航天民生科技(北京)有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84
代理公司: 北京市浩天知识产权代理事务所 11276 代理人: 韩龙;李淑敏
地址: 100176 北京市大兴区北京经*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 微观 径迹 检测 分析 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种用于微观径迹的检测分析系统,其特征在于,包括:

图像采集装置(100),采集被检测对象(400)上的微观径迹信息;

控制装置(200),控制图像采集装置(100)的移动和定位,实现对被检测对象(400)上的微观径迹信息的精准采集,并将精准采集到的微观径迹信息输送给对比分析装置(300);

对比分析装置(300),将精准采集到的微观径迹信息与预先存储的比对信息进行对比分析,并输出分析结果。

2.根据权利要求1所述的用于微观径迹的检测分析系统,其特征在于,控制装置(200)包括自动对焦组件(210),自动对焦组件(210)包括:

对焦执行单元(211),与图像采集装置(100)相连,对图像采集装置(100)进行移动和定位;

对焦控制单元(212),判断分析图像采集装置(100)的对焦情况,并根据对焦情况控制对焦执行单元(211)的运动。

3.根据权利要求2所述的用于微观径迹的检测分析系统,其特征在于,对焦控制单元(212)包括:

对焦判断模块(2121),接收图像采集装置(100)采集到的微观径迹信息,并根据该微观径迹信息是否符合预先设定的精度范围的判断,得出图像采集装置(100)的对焦结果;

控制输出模块(2122),接收对焦判断模块(2121)做出的图像采集装置(100)的对焦结果,并根据该对焦结果控制对焦执行单元(211)的运行。

4.根据权利要求1所述的用于微观径迹的检测分析系统,其特征在于,对比分析装置(300)包括:

识别判断单元(310),接收图像采集装置(100)精准采集到的微观径迹信息,并计算该微观径迹信息与预先存储的比对信息的信息匹配度,根据计算出的信息匹配度与预设值的比对结果,做出被检测对象(400)的真伪判断;

结果输出单元(320),显示出识别判断单元(310)做出的被检测对象(400)的真伪判断结果。

5.根据权利要求1所述的用于微观径迹的检测分析系统,其特征在于,图像采集装置(100)包括顺次连接的物镜(110)、镜筒(120)和微观径迹采集器(130),镜筒(120)上靠近物镜(110)的一端设置有照明光源(140),被检测对象(400)放置在物镜(110)的前方。

6.根据权利要求2所述的用于微观径迹的检测分析系统,其特征在于,对焦执行单元(211)包括底板(2111),底板(2111)上设置有驱动装置(2112),驱动装置(2112)的动力输出端上设置有连接件(2113),连接件(2113)的另一端连接有丝杆(2114),丝杆(2114)的另一端与滑块(2115)相连,滑块(2115)设置在导轨(2116)上,图像采集装置(100)固定设置在滑块(2115)上,滑块(2115)沿导轨(2116)前后移动,实现图像采集装置(100)的对焦操作。

7.根据权利要求6所述的用于微观径迹的检测分析系统,其特征在于,滑块(2115)的移动方向上设置有第一限位块(2117)和第二限位块(2118),第一限位块(2117)设置在滑块(2115)靠近驱动装置(2112)的一端,第二限位块(2118)设置在滑块(2115)远离驱动装置(2112)的一端,第一限位块(2117)和第二限位块(2118)上分别设置有远端极限点检测开关和近端极限点检测开关,滑块(2115)在第一限位块(2116)和第二限位块(2117)之间移动。

8.根据权利要求6所述的用于微观径迹的检测分析系统,其特征在于,对焦执行单元(211)上设有中间零点检测开关,中间零点检测开关包括光拦片(2119)和槽形光电传感器(2120),光拦片(2119)设置在滑块(2115)上,并能够随滑块(2115)一起移动;槽形光电传感器(2120)设置在底板(2111)上,槽形光电传感器(2120)上形成有红外透射槽,红外透射槽内部的两相对表面上分别设置有红外发射端和红外接收端;光拦片(2119)随滑块(2115)一起移动时能够进入到槽形光电传感器(2120)上的红外透射槽中,遮挡住红外透射槽中的红外发射端到红外接收端的红外光,使驱动装置(2112)停止运行,进而确定滑块(2115)的起始位置。

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