[发明专利]一种测温晶圆微调装置有效
申请号: | 201410281209.X | 申请日: | 2014-06-20 |
公开(公告)号: | CN105181157B | 公开(公告)日: | 2017-07-28 |
发明(设计)人: | 尹硕 | 申请(专利权)人: | 沈阳芯源微电子设备有限公司 |
主分类号: | G01K1/00 | 分类号: | G01K1/00 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司21002 | 代理人: | 白振宇 |
地址: | 110168 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测温 微调 装置 | ||
1.一种测温晶圆微调装置,其特征在于:包括PIN针(1)、PIN针升降支座(2)、直线导轨支座(4)、千分尺(5)和托盘(6),其中直线导轨支座(4)固装于托盘(6)上,PIN针升降支座(2)通过直线导轨(3)可升降地安装于所述直线导轨支座(4)上,所述PIN针升降支座(2)的中部设有凹槽(8),PIN针(1)安装在所述PIN针升降支座(2)的凹槽(8)中,所述直线导轨支座(4)中部设有通孔,所述凹槽(8)外壁插装入所述直线导轨支座(4)上的通孔中,在托盘(6)的下侧安装有千分尺(5),所述千分尺(5)的测量圆杆自由端伸入所述直线导轨支座(4)中并与所述PIN针升降支座(2)的凹槽(8)底面相抵。
2.根据权利要求1所述的测温晶圆微调装置,其特征在于:所述PIN针升降支座(2)的两侧分别设有侧板(9),所述侧板(9)设置于所述直线导轨支座(4)外,并通过直线导轨(3)与所述直线导轨支座(4)相连。
3.根据权利要求2所述的测温晶圆微调装置,其特征在于:所述直线导轨(3)的滑轨部分固装于直线导轨支座(4)上,直线导轨(3)的滑块部分安装在PIN针升降支座的侧板(9)上。
4.根据权利要求1所述的测温晶圆微调装置,其特征在于:所述PIN针(1)的自由端伸出至所述PIN针升降支座(2)外。
5.根据权利要求1所述的测温晶圆微调装置,其特征在于:所述托盘(6)通过托盘支座(7)支承。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于沈阳芯源微电子设备有限公司,未经沈阳芯源微电子设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410281209.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:温度传感器元件
- 下一篇:基于单模光纤的太赫兹脉冲单次探测系统及探测方法