[发明专利]一种测温晶圆微调装置有效

专利信息
申请号: 201410281209.X 申请日: 2014-06-20
公开(公告)号: CN105181157B 公开(公告)日: 2017-07-28
发明(设计)人: 尹硕 申请(专利权)人: 沈阳芯源微电子设备有限公司
主分类号: G01K1/00 分类号: G01K1/00
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司21002 代理人: 白振宇
地址: 110168 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 测温 微调 装置
【权利要求书】:

1.一种测温晶圆微调装置,其特征在于:包括PIN针(1)、PIN针升降支座(2)、直线导轨支座(4)、千分尺(5)和托盘(6),其中直线导轨支座(4)固装于托盘(6)上,PIN针升降支座(2)通过直线导轨(3)可升降地安装于所述直线导轨支座(4)上,所述PIN针升降支座(2)的中部设有凹槽(8),PIN针(1)安装在所述PIN针升降支座(2)的凹槽(8)中,所述直线导轨支座(4)中部设有通孔,所述凹槽(8)外壁插装入所述直线导轨支座(4)上的通孔中,在托盘(6)的下侧安装有千分尺(5),所述千分尺(5)的测量圆杆自由端伸入所述直线导轨支座(4)中并与所述PIN针升降支座(2)的凹槽(8)底面相抵。

2.根据权利要求1所述的测温晶圆微调装置,其特征在于:所述PIN针升降支座(2)的两侧分别设有侧板(9),所述侧板(9)设置于所述直线导轨支座(4)外,并通过直线导轨(3)与所述直线导轨支座(4)相连。

3.根据权利要求2所述的测温晶圆微调装置,其特征在于:所述直线导轨(3)的滑轨部分固装于直线导轨支座(4)上,直线导轨(3)的滑块部分安装在PIN针升降支座的侧板(9)上。

4.根据权利要求1所述的测温晶圆微调装置,其特征在于:所述PIN针(1)的自由端伸出至所述PIN针升降支座(2)外。

5.根据权利要求1所述的测温晶圆微调装置,其特征在于:所述托盘(6)通过托盘支座(7)支承。

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