[发明专利]低压成套设备综合测试装置无效
申请号: | 201410281512.X | 申请日: | 2014-06-20 |
公开(公告)号: | CN104090181A | 公开(公告)日: | 2014-10-08 |
发明(设计)人: | 喻永贵 | 申请(专利权)人: | 航天科工深圳(集团)有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 深圳市睿智专利事务所 44209 | 代理人: | 郭文姬;罗兴元 |
地址: | 518048 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 低压 成套设备 综合测试 装置 | ||
技术领域
本发明涉及配电自动化终端,特别是与低压成套设备有关。
背景技术
能源的高效利用一直是国家极力倡导的,然而在实际的用电过程中,由于用电器的不断更新,给电网带来一些污染。产生了相当大的无功功率,使得原本清洁的电能不能高效的得以应用。随着农网改造不断的深入发展,无功补偿系统在低压配电柜中得到广泛应用。目前主流的配电变压器综合配电柜,简称JP柜,大都以电容器动态切入,从而实现降低无功功率提高功率因数的效果。通常情况下,低压成套设备在检测时需上电加入额定电压额定电流,并需要模拟各种功率因数条件下电网实际环境,考察JP柜能否实时切入补偿电容,并实时考察补偿的效果;同时,还要考察能否实时切除电容。则更是需要功能全面容量足够大且能移相的模拟电源。目前我国从事JP柜和低压成套开关设备的生产厂家很多,这些生产厂家在生产过程中,缺乏专业的综合性能强的程控自动的检测设备。只能借助于通用检测设备对设备分模块进行检测。这样费工费时且测试范围有限。频繁跟换检测设备也使得检测效率低下。同时也给供电系统设备验收带来不便。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于为了避免现有技术中的借助于通用检测设备对低压成套设备分模块进行检测而导致的费工费时、测试范围有限、检测效率低下以及供电系统设备验收不便等不足之处,而提出一种低压成套设备综合测试装置。
针对上述要解决的技术问题,本发明的技术方案如下:
提出一种低压成套设备综合测试装置,该装置包括中央处理单元、与该中央处理单元相连的数据采集单元和三相交流信号源单元,以及与该三相交流信号源单元相配合的谐波产生叠加单元,其中,所述中央处理单元用于处理所述数据采集单元、三相交流信号源单元、谐波产生叠加单元发来的信息,并控制所述数据采集单元、三相交流信号源单元和谐波产生叠加单元的处理;所述数据采集单元用以采集被检低压成套设备的模拟量,所述三相交流信号源单元用以产生具有设定频率和设定相位的三相电压和三相电流,所述谐波产生叠加单元产生谐波信号并将该谐波信号叠加至该三相电压和/或三相电流上,为模拟电网提供谐波信号。
进一步地,所述数据采集单元包括电流电压互感器、阻容元件和A/D转换电路,所述A/D转换电路将所述电流电压互感器、阻容元件的模拟信号转换成数字信号发送至所述中央处理单元。
进一步地,该装置还包括与该中央处理单元相连的开关量输入单元,其中,该开关量输入单元用以采集被检低压成套设备的开关量。
进一步地,该装置还包括与该中央处理单元相连的电容测试单元,用以对被检低压成套设备的电容进行检测。
进一步地,该装置还包括与该中央处理单元相连的电阻测试单元,用以对被检低压成套设备的接地电阻进行检测。
进一步地,该装置还包括与该中央处理单元相连的耐压测试单元,用以对被检低压成套设备的耐压性能进行检测,利用升压器在中央处理单元的控制下实现程控耐压测试。
进一步地,该装置还包括与该中央处理单元相连的通讯单元,用于被检设备的通讯。
进一步地,该装置还包括与该中央处理单元相连的触摸显示单元,用于提供人机接口。
进一步地,所述三相交流信号源单元包括波形发生电路、前置放大电路、IGBT驱动电路和IGBT功放电路,其中,所述波形发生电路产生三相电流和三相电压波形信号,经由前置放大电路,再由中央处理单元的PWM输出端所输出的PWM波形信号来控制所述IGBT驱动电路对信号进行隔离放大,并推动所述IGBT功放电路输出六路电流电压信号。
进一步地,所述中央处理单元包括ARM主芯片和与该ARM主芯片相配合的DSP芯片,其中,所述三相交流信号源单元的波形发生电路和IGBT驱动电路均受控于该DSP芯片。
与现有技术相比,本发明低压成套设备综合测试装置,具有以下技术效果:
通过将数据采集单元、三相交流信号源单元、谐波产生叠加单元与中央处理单元集成到一起,可以产生叠加有谐波的不同相位、不同频率的正弦交流波形的模拟电网信号,从而可以对低压成套设备实现全程控一次性检测,改变了成套设备在生产过程中使用通用检测仪器对设备进行分步分块检测的方法,大大提高了检测效率。
另外,通过将开关量输入单元、电容测试单元、电阻测试单元、耐压测试单元、通讯单元以及触摸显示单元等也集成为一体,使得本发明装置体积相对较小,方便电力系统检测人员携带,有利于实现现场检测。
附图说明
图1是本发明的低压成套设备综合测试装置实施例的结构示意。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于航天科工深圳(集团)有限公司,未经航天科工深圳(集团)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410281512.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。