[发明专利]一种防止耦合的集成电路在审

专利信息
申请号: 201410284515.9 申请日: 2014-06-24
公开(公告)号: CN105321940A 公开(公告)日: 2016-02-10
发明(设计)人: 高俊杰 申请(专利权)人: 高俊杰
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/52
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 211300 江苏省南京市高*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 防止 耦合 集成电路
【权利要求书】:

1.一种防止耦合的集成电路,形成于一半导体晶片中,所述集成电路结构包括:一封环,耦接于一信号接地;多个穿孔,耦接于一相邻上层或相邻下层的每一金属线;多个介电层,分别将各金属层与相邻下层或相邻上层的金属层隔离;以及一封环延伸物,与上述封环耦接且将电路分成若干区间。

2.根据权利要求1所述的集成电路结构,其特征在于,上述电路区中至少某一部分具有操作于一信号频率高于1GHz的元件。

3.根据权利要求1所述的集成电路结构,其特征在于,更包括形成一激光熔丝及一环绕着激光熔丝的保护环,其中上述保护环是经由一外部垫片而耦接至上述信号接地。

4.一种集成电路结构,形成于一半导体晶片中,所述集成电路结构包括:一封环,耦接于一信号接地,包括:多个金属线,其中每一金属线分属个别的一金属层,且环绕上述半导体晶片的一电路区;多个穿孔,耦接于一相邻上层或相邻下层的每一金属线;多个介电层,分别将各金属层与相邻下层或相邻上层的金属层隔离;以及与上述封环相邻的一额外封环,其中上述额外封环是耦接于上述接地信号。

5.根据权利要求4所述的集成电路结构,其特征在于,更包括一凸状垫片,与上述金属线耦接,其中上述凸状垫片是耦接于上述信号接地。

6.根据权利要求4所述的集成电路结构,其特征在于,更包括形成一激光熔丝及一环绕着激光熔丝的保护环,其中上述保护环是经由一外部垫片而耦接至上述信号接地。

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