[发明专利]基于数据可信性判断的抗辐射SRAM多模冗余设计方法有效
申请号: | 201410285236.4 | 申请日: | 2014-06-24 |
公开(公告)号: | CN104103306B | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 张森;洪一;王秋实;陈林林;庞遵林;黄少雄 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 |
主分类号: | G11C11/413 | 分类号: | G11C11/413 |
代理公司: | 合肥金安专利事务所34114 | 代理人: | 吴娜 |
地址: | 230088 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 数据 可信性 判断 辐射 sram 冗余 设计 方法 | ||
1.基于数据可信性判断的抗辐射SRAM多模冗余设计方法,其特征在于该方法包括下列顺序的步骤:
(1)由多个相同的SRAM存储器和一个冗余系统控制电路组成多模冗余存储系统;
(2)在多模冗余存储系统中的SRAM存储器的存储阵列中选择多个数据位作为观察位,观察位存储已知数据;
(3)冗余系统控制电路对每个SRAM存储阵列中的观察位进行周期性检查,当发现观察位数据发生翻转错误,则刷新对应SRAM存储阵列中发生翻转错误的观察位周围的嫌疑区域内的数据位,并且在刷新前的判决时放弃采用这些数据,刷新完成后,将对应的观察位的数据恢复。
2.根据权利要求1所述的基于数据可信性判断的抗辐射SRAM多模冗余设计方法,其特征在于:读取数据或者刷新前判断正确数据时,冗余系统控制电路同时读取所有SRAM存储器以获取多份数据样本,然后采用服从多数表决法判断出结果。
3.根据权利要求1所述的基于数据可信性判断的抗辐射SRAM多模冗余设计方法,其特征在于:所述观察位存储的已知数据为0或1。
4.根据权利要求1所述的基于数据可信性判断的抗辐射SRAM多模冗余设计方法,其特征在于:所述嫌疑区域内的数据位为数据发生变化的观察位周围相邻物理范围内的所有数据位。
5.根据权利要求1所述的基于数据可信性判断的抗辐射SRAM多模冗余设计方法,其特征在于:所述冗余系统控制电路在对数据进行刷新前的判决时放弃采用嫌疑区域的数据。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第三十八研究所,未经中国电子科技集团公司第三十八研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410285236.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 数据显示系统、数据中继设备、数据中继方法、数据系统、接收设备和数据读取方法
- 数据记录方法、数据记录装置、数据记录媒体、数据重播方法和数据重播装置
- 数据发送方法、数据发送系统、数据发送装置以及数据结构
- 数据显示系统、数据中继设备、数据中继方法及数据系统
- 数据嵌入装置、数据嵌入方法、数据提取装置及数据提取方法
- 数据管理装置、数据编辑装置、数据阅览装置、数据管理方法、数据编辑方法以及数据阅览方法
- 数据发送和数据接收设备、数据发送和数据接收方法
- 数据发送装置、数据接收装置、数据收发系统、数据发送方法、数据接收方法和数据收发方法
- 数据发送方法、数据再现方法、数据发送装置及数据再现装置
- 数据发送方法、数据再现方法、数据发送装置及数据再现装置