[发明专利]一种具有高空穴浓度的P-GaN蓝光LED外延结构有效

专利信息
申请号: 201410285900.5 申请日: 2014-06-25
公开(公告)号: CN105304780A 公开(公告)日: 2016-02-03
发明(设计)人: 田宇;余登永;郑建钦;曾欣尧;童敬文;吴东海;李鹏飞 申请(专利权)人: 南通同方半导体有限公司;同方股份有限公司
主分类号: H01L33/14 分类号: H01L33/14
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地址: 100083 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 空穴 浓度 gan led 外延 结构
【权利要求书】:

1.一种具有高空穴浓度的P-GaN蓝光LED外延结构,它从下至上依次包括蓝宝石衬底(1)、AlN缓冲层(2)、U型GaN层(3)、N型GaN层(4)、有源区(5)、电子阻挡层(6)和P型GaN层(7),其特征在于:所述P型GaN层(7)从下至上依次包括交替生长的AlxGa1-xN层(8)和MgN-In层(9),位于最顶层的MgN-In层(9)上方置有P-AlGaN层(10)。

2.根据权利要求1所述的具有高空穴浓度的P-GaN蓝光LED外延结构,其特征在于:所述AlxGa1-xN层(8)和MgN-In层(9)交替生长周期为1-50个周期,生长AlxGa1-xN层(8)的厚度为10-1000埃,其中Al组分为0<x<1;生长MgN-In层(9)的厚度为5-500埃,其中In浓度为5x1017~1x1023cm3;生长P-AlGaN层(10)厚度为5-500nm,其中,Mg的掺杂浓度为5x1017~1x1023cm3

3.根据权利要求1或2所述的具有高空穴浓度的P-GaN蓝光LED外延结构,其特征在于:所述P型GaN层(7)生长温度为800-1200℃,生长压力为75-1000mbar,在氮气、氢气或者氢氮混合气环境中生长。

4.根据权利要求3所述的具有高空穴浓度的P-GaN蓝光LED外延结构,其特征在于:所述P型GaN层(7)采用Pss衬底、平衬底、非极性衬底、Si衬底或者SiC衬底任一种。

5.根据权利要求4所述的具有高空穴浓度的P-GaN蓝光LED外延结构,其特征在于:所述AlxGa1-xN层(8)采用P-AlGaN层、P-AlGaInN层、AlGaInN层、P-AlInN层或者AlInN层任一种。

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