[发明专利]一种具有高空穴浓度的P-GaN蓝光LED外延结构有效
申请号: | 201410285900.5 | 申请日: | 2014-06-25 |
公开(公告)号: | CN105304780A | 公开(公告)日: | 2016-02-03 |
发明(设计)人: | 田宇;余登永;郑建钦;曾欣尧;童敬文;吴东海;李鹏飞 | 申请(专利权)人: | 南通同方半导体有限公司;同方股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/14 | 分类号: | H01L33/14 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100083 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 空穴 浓度 gan led 外延 结构 | ||
1.一种具有高空穴浓度的P-GaN蓝光LED外延结构,它从下至上依次包括蓝宝石衬底(1)、AlN缓冲层(2)、U型GaN层(3)、N型GaN层(4)、有源区(5)、电子阻挡层(6)和P型GaN层(7),其特征在于:所述P型GaN层(7)从下至上依次包括交替生长的AlxGa1-xN层(8)和MgN-In层(9),位于最顶层的MgN-In层(9)上方置有P-AlGaN层(10)。
2.根据权利要求1所述的具有高空穴浓度的P-GaN蓝光LED外延结构,其特征在于:所述AlxGa1-xN层(8)和MgN-In层(9)交替生长周期为1-50个周期,生长AlxGa1-xN层(8)的厚度为10-1000埃,其中Al组分为0<x<1;生长MgN-In层(9)的厚度为5-500埃,其中In浓度为5x1017~1x1023cm3;生长P-AlGaN层(10)厚度为5-500nm,其中,Mg的掺杂浓度为5x1017~1x1023cm3。
3.根据权利要求1或2所述的具有高空穴浓度的P-GaN蓝光LED外延结构,其特征在于:所述P型GaN层(7)生长温度为800-1200℃,生长压力为75-1000mbar,在氮气、氢气或者氢氮混合气环境中生长。
4.根据权利要求3所述的具有高空穴浓度的P-GaN蓝光LED外延结构,其特征在于:所述P型GaN层(7)采用Pss衬底、平衬底、非极性衬底、Si衬底或者SiC衬底任一种。
5.根据权利要求4所述的具有高空穴浓度的P-GaN蓝光LED外延结构,其特征在于:所述AlxGa1-xN层(8)采用P-AlGaN层、P-AlGaInN层、AlGaInN层、P-AlInN层或者AlInN层任一种。
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