[发明专利]一种深度恢复调整方法及电子设备

说明书

本发明公开了一种深度恢复调整方法及电子设备，其中，所述方法应用于一电子设备，所述电子设备包括一检测单元，一光发射单元，以及一感光单元，所述光发射单元投射在一目标体上，所述方法包括：通过所述检测单元检测目标体与所述光发射单元的第一信息；判断所述第一信息是否符合第一阈值；当所述第一信息不符合所述第一阈值时，调节所述光发射单元的发光参数和/或所述感光单元的感光参数，使所述感光单元能够感应到所述光发射单元投射在所述目标体的信息。

技术领域

本发明涉及通讯技术，尤其涉及一种深度恢复调整方法及电子设备。

背景技术

本申请发明人在实现本申请实施例技术方案的过程中，至少发现现有技术中存在如下技术问题：

支持投影功能的电子设备通常具有采集单元和投影单元，采集单元包括结构光深度摄像头，用于对由投影单元如红外线激光发射器IR laser投射出的参考平面内的用户操作进行采集，根据采集到的用户深度信息获知用户操作的位置和具体形态，例如准确获知用户操作如用户空间手势的位置和具体形态，包括一维、二维及三维的用户手势。

然而，采用投影单元投射出的该参考平面，往往受到光强的限制，当待测表面或目标物体距离该结构光深度摄像头太近时，会造成由该结构光深度摄像头采集的图像曝光过强，导致图像的结构光特征丢失，无法准确采集到用户深度信息，无法进行深度恢复。相关技术中，对于该问题，尚无有效解决方案。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例希望提供一种深度恢复调整方法及电子设备，至少解决了由结构光深度摄像头采集的图像曝光过强，导致图像的结构光特征丢失，无法进行深度恢复的问题。

本发明实施例的技术方案是这样实现的：

一种深度恢复调整方法，应用于一电子设备，所述电子设备包括一检测单元，一光发射单元，以及一感光单元，所述光发射单元投射在一目标体上，所述方法包括：

通过所述检测单元检测目标体与所述光发射单元的第一信息；

判断所述第一信息是否符合第一阈值；

当所述第一信息不符合所述第一阈值时，调节所述光发射单元的发光参数和/或所述感光单元的感光参数，使所述感光单元能够感应到所述光发射单元投射在所述目标体的信息。

优选地，所述电子设备还包括一投影单元，所述方法，还包括：

通过所述投影单元投射到所述目标体上，产生第一显示区域，所述第一显示区域与所述光发射单元所投影的区域相重合。

优选地，所述通过所述检测单元检测目标体与所述光发射单元的第一信息，包括：

检测所述目标体与所述光发射单元的深度信息和/或所述光发射单元在所述目标体所成的发光图案。

优选地，所述调节所述光发射单元的发光参数，还包括：

调节所述光发射单元的发光功率和/或所述发光图案。

优选地，所述调节所述感光单元的感光参数，包括：

当所述第一信息大于所述第一阈值时，提高所述感光参数的感光参数；

当所述第一信息小于所述第一阈值时，减低所述感光参数的感光参数。

优选地，所述方法还包括：

所述感光单元在所述第一显示区域中采集包括所述目标体的全景图像；或者，在所述第一显示区域仅采集目标体的图像。

一种电子设备，所述电子设备包括：一检测单元，一光发射单元，以及一感光单元，所述光发射单元投射在一目标体上；

所述检测单元，用于检测目标体与所述光发射单元的第一信息；