[发明专利]具有电容式安全屏蔽的设备

权利要求书

1.一种半导体设备，其特征在于，该半导体设备包括电容式安全屏蔽，该电容式安全屏蔽包括：

形成在介质层(12)内的一组随机分布的介电粒子或导电粒子(14)；

形成在一层中的一组电极(16，18，20；30，32，34)，所述一组随机分布的介电粒子或导电粒子形成在这一层之上；以及

控制器(52)，

控制器(52)适用于将电极配置为至少两组，其中第一组(16)用于测量电容特性，第二组(18，20)被配置为非测量组，控制器还适用于将电极重新配置成不同的第一组和第二组，被重新配置的第一组用于测量重新配置的电容特性。

2.如权利要求1所述的半导体设备，其特征在于，第二组包括接地的电极(18)。

3.如权利要求1或2所述的半导体设备，其特征在于，第二组包括处于悬浮电位的电极(20)。

4.如在前的任意一项权利要求所述的半导体设备，其特征在于，第二组包括被施加有调制电压的电极。

5.如权利要求4所述的半导体设备，其特征在于，第一组包括被施加有调制电压的电极，第二组的电极具有相同的调制信号。

6.如权利要求4或5所述的半导体设备，其特征在于，第一组(16)包括被施加有调制电压的电极，第二组的电极具有反相的调制信号。

7.如在前的任意一项权利要求所述的半导体设备，其特征在于，包括存储器(50)，存储器(50)存储有一系列不同配置的电极。

8.如在前的任意一项权利要求所述的半导体设备，其特征在于，电极(16，18，20；30，32，34)的面积等于或小于100μm²。

9.如在前的任意一项权利要求所述的半导体设备，其特征在于，粒子(14)的最大长度尺寸小于30μm。

10.一种卡，其特征在于，包括在前的任意一项权利要求所述的半导体设备。

11.一种安全芯片，其特征在于，包括在前的任意一项权利要求所述的半导体设备。

12.一种RFID标签，其特征在于，包括在前的任意一项权利要求所述的半导体设备。

13.一种从半导体设备提取数据的方法，其特征在于，该半导体设备包括应用在物理不可克隆功能中的结构，该结构包括形成在介质层(12)内的一组随机分布的介电粒子或导电粒子(14)；形成在一层中的一组电极，所述一组随机分布的介电粒子或导电粒子形成在这一层之上；

该方法包含：

将电极配置为至少两组；

利用第一组(16)测量电容特性，第二组(18，20)被配置为非测量组，

将电极重新配置为至少两组的不同组合；

利用第一组(16)测量重新配置的电容特性，第二组(18，20)被配置为非测量组。

14.如权利要求13所述的方法，其特征在于，包括将第二组电极的电压设置为：

接地；和/或

悬浮电位；和/或

调制电压或反相调制电压。

15.如权利要求14所述的方法，其特征在于，包括通过对第一组电极施加调制电压以及对第二组电极施加相同的信号来测量电容特性。

16.如权利要求14或15所述的方法，其特征在于，包括通过对第一组电极施加调制电压以及对第二组电极施加相反的调制信号来测量电容特性。

17.如权利要求13到16中任意一项所述的方法用于认证过程。