[发明专利]记录测试场景的方法和装置

说明书

本发明提供了一种记录测试场景的方法，所述方法包括：运行嵌入了测试组件的被测试应用；通过所述被测试应用获取测试指令，并响应于所述测试指令生成测试数据；通过所述测试组件获取记录触发指令；根据所述记录触发指令记录当前时间和与当前测试场景相关的信息的对应关系；所述对应关系用于与所述测试数据匹配。使用本发明提供的记录测试场景的方法，测试人员在进行连续测试时能够即时记录测试场景，在连续测试结束之后，可以根据记录的时间与测试场景相关信息的对应关系来与测试数据对应，从而分析定位并解决存在的问题。本发明还提供了一种记录测试场景的装置。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别是涉及一种记录测试场景的方法和装置。

背景技术

终端上运行的应用使得终端可以实现各种各样的功能，而程序开发人员为实现某些功能而开发的应用，需要测试人员判断该应用实现的功能是否符合预期，或者需要判断该应用在实现功能的过程中是否会产生其它意料不到的情况，从而在发布应用前发现并解决应用存在的这些问题。

测试人员在对应用的测试过程中，需要即时记录测试场景，从而便于在测试之后能够结合记录测试场景来定位问题。目前记录测试数据主要通过测试人员手工记录。

然而，在一些连续的应用测试过程中，比如对游戏应用的测试，测试人员难以手工记录测试场景，因手工记录测试场景会导致测试过程的中断，从而导致无法达到通过测试发现问题的目的。

发明内容

基于此，有必要针对目前在连续的应用测试过程中难以记录测试场景的技术问题，提供一种记录测试场景的方法和装置。

一种记录测试场景的方法，所述方法包括：

运行嵌入了测试组件的被测试应用；

通过所述被测试应用获取测试指令，并响应于所述测试指令生成测试数据；

通过所述测试组件获取记录触发指令；

根据所述记录触发指令记录当前时间和与当前测试场景相关的信息的对应关系；所述对应关系用于与所述测试数据匹配。

一种记录测试场景的装置，所述装置包括：

被测试应用运行模块，用于运行嵌入了测试组件的被测试应用；

测试指令处理模块，用于通过所述被测试应用获取测试指令，并响应于所述测试指令生成测试数据；

记录触发指令获取模块，用于通过所述测试组件获取记录触发指令；

记录模块，用于根据所述记录触发指令记录当前时间和与当前测试场景相关的信息的对应关系；所述对应关系用于与所述测试数据匹配。

上述记录测试场景的方法和装置，在被测试应用中嵌入测试组件，当运行被测试应用而进行连续测试时，通过被测试应用来响应测试指令而生成测试数据；而通过测试组件来获取记录触发指令，从而根据该记录触发指令记录当前时间和与当前测试场景相关的信息的对应关系，以达到记录测试场景的目的。这样测试人员在进行连续测试时能够即时记录测试场景，在连续测试结束之后，可以根据记录的时间与测试场景相关信息的对应关系来与测试数据对应，从而分析定位并解决存在的问题。

附图说明

图1为一个实施例中终端的结构示意图；

图2为一个实施例中记录测试场景的方法的流程示意图；

图3为一个具体应用场景中在被测试应用的交互界面上显示记录触发控件的界面示意图；

图4为一个具体应用场景中点击记录触发控件后进入测试组件的操作界面的界面示意图；

图5为一个实施例中记录测试场景的装置的结构框图；