[发明专利]探测器的气密封装

说明书

本发明提供一种原子粒子探测组件，该原子粒子探测组件包括探测原子粒子的一个或多个探测器。探测器定位在具有第一操作压力的第一室内。该原子粒子探测组装包括接合装置，该接合装置支承探测器。该接合装置限定了具有第二操作压力的第二室，第二操作压力与第一操作压力不同。感测电子设备附接到探测器并且所述感测电子设备被容纳在接合装置的第二室内。

技术领域

本发明总体涉及探测组件，并且具体而言，涉及保持一种或多种密封环境的原子粒子探测组件。

背景技术

中子探测器用于中子轰击和散射实验。在中子探测器中，由阴极壳内的中子反应产生的中子、离子、原子粒子等将与壳内所容纳的气体(多种气体)碰撞以形成自由电子。这些自由电子被阳极吸引，由此产生信号。该信号被传输至电子设备(例如，高压电子设备)以用于分析。当信号在中子探测器与高压电子设备之间传输相对较大的距离时，可能出现信号衰减。此外，由于电压电子设备存放于其中的室中的压力降低到大气压力以下，高压电子设备中可能出现电压击穿。因此，存在对提供具有改进的信号强度并且降低电压击穿的可能性的探测器的需要并且这将是有益的。

发明内容

下文提出了对本发明的简要概括以便提供对本发明的一些示例性方面的基本理解。该概括不是对本发明的广泛概述。此外，既不期望该概括确定本发明的关键元件也不期望该概括描述本发明的范围。该概括的唯一目的是以简化形式提出本发明的一些理念作为下文提出的更详细描述的前序。

根据一个方面，本发明提供一种原子粒子探测组件，该原子粒子探测组件包括被构造成探测原子粒子的一个或多个探测器。探测器定位在具有第一操作压力的第一室内。该原子粒子探测组件包括接合装置，该接合装置支承探测器。该接合装置限定了具有第二操作压力的第二室，第二操作压力与第一操作压力不同。感测电子设备操作性地附接到探测器并且所述感测电子设备被容纳在接合装置的第二室内。

根据另一个方面，本发明提供一种原子粒子探测组件，该原子粒子探测组件包括被构造成探测原子粒子的一个或多个探测器。探测器定位在具有第一操作压力的第一室内。该原子粒子探测组件包括接合装置，该接合装置支承探测器。该接合装置限定了具有第二操作压力的第二室，第二操作压力大于第一操作压力。感测电子设备操作性地附接到探测器并且被构造成从探测器接收探测信号。所述感测电子设备被容纳在接合装置的第二室内。

根据另一个方面，本发明提供一种原子粒子探测组件，该原子粒子探测组件包括被构造成探测原子粒子一个或多个探测器。探测器定位在具有第一操作压力的第一室内。该原子粒子探测组件包括接合装置，该接合装置支承探测器。该接合装置限定了具有第二操作压力的第二室，第二操作压力大于第一操作压力。探测器通过接合装置的肩部密封，使得第二操作压力相对于第一操作压力得以保持。

附图说明

当参照附图阅读下文的描述时，对于本发明所涉及的领域内的技术人员而言，本发明的上述和其它的方面将变得显而易见，在附图中：

图1是根据本发明的方面的示例性原子粒子探测组件的大体/示例性图示；

图2是用于原子粒子探测组件中的示例性探测单元的局部剖开透视图；

图3是在探测单元的端部的图2的圆形截面3处截取的细节的放大局部剖开透视图；以及

图4是在示例性接合装置内的示例性位置敏感探测器的端部的图3的圆形截面4处截取的细节的放大局部剖开透视图。

具体实施方式

附图中描述和图示了结合本发明的一个或多个方面的示例性实施例。不期望这些图示的例子对本发明构成限制。例如，本发明的一个或多个方面能够用于其它实施例以及甚至其它类型的装置。此外，本文中所使用的某些术语仅仅是为了方便起见并且不应当被认为对本发明构成限制。此外，在附图中，采用相同的附图标记表示相同的元件。