[发明专利]一种显微镜定位跟踪成像方法、装置及尿沉渣分析系统

权利要求书

1.一种显微镜定位跟踪成像方法，其特征在于，包括以下步骤：

分析通过低倍显微镜对聚集平面的样本依序进行拍照获得多张低倍镜视野图片，确定其中存在目标颗粒的低倍镜视野图片，其中，所述分析基于目标颗粒的类型以及数量来实现；

将每一存在目标颗粒的低倍镜视野图片划分为多个高倍镜视野区域，获得所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域，选定其中的目标高倍视野区域并获得各目标高倍视野区域的位置信息；

根据所述各目标高倍视野区域的位置信息，采用高倍显微镜在聚集平面的样本上对应位置的区域处进行拍照，获得高倍镜视野图片；

其中，所述将每一存在目标颗粒的低倍镜视野图片划分为多个高倍镜视野区域，获得所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域，选定其中的目标高倍视野区域并获得各目标高倍视野区域的位置信息的步骤进一步包括：

按照所述低倍显微镜与所述高倍显微镜的倍率关系，将每一存在目标颗粒的低倍镜视野图片划分为多个高倍镜视野区域；

识别出每一存在目标颗粒的低倍镜视野图片中存在目标颗粒的高倍镜视野区域，并获得其位置信息；

从所有的存在目标颗粒的高倍镜视野区域中选定目标高倍视野区域，并获得各目标高倍视野区域的位置信息；其中，所述从所有的存在目标颗粒的高倍镜视野区域中选定目标高倍视野区域，并获得各目标高倍视野区域的位置信息的步骤进一步包括：

将所述所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域的总数与一预设的高倍镜最大拍照张数进行比较；

如果所述总数小于或等于所述最大拍照张数，则将所述所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域选定为目标高倍视野区域，并获得各目标高倍视野区域的位置信息；

如果所述总数大于所述最大拍照张数，则对所述存在目标颗粒的高倍镜视野区域按目标颗粒的数量从大到小进行排序，选定处于前列的最大拍照张数个存在目标颗粒的高倍镜视野区域为目标高倍视野区域，并获得各目标高倍视野区域的位置信息。

2.如权利要1所述的方法，其特征在于，所述最大拍照张数小于所述聚集平面的所有高倍镜视野区域的总数。

3.如权利要求1至2任一项所述的方法，其特征在于，所述位置信息为各高倍镜视野区域的坐标矩阵信息。

4.一种显微镜定位跟踪成像装置，其特征在于，包括：

低倍镜视野图片分析单元，用于分析通过低倍显微镜对聚集平面的样本依序进行拍照所获得多张低倍镜视野图片，确定其中存在目标颗粒的低倍镜视野图片，其中，所述分析基于目标颗粒的类型以及数量来实现；

目标高倍视野区域确定单元，用于将所述低倍镜拍照单元所确定的每一存在目标颗粒的低倍镜视野图片划分为多个高倍镜视野区域，获得所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域，选定其中的目标高倍视野区域并获得各目标高倍视野区域的位置信息；

高倍镜拍照单元，用于根据所述目标高倍视野区域选完单元确定的各目标高倍视野区域的位置信息，采用高倍显微镜在聚集平面的样本上对应位置的区域处进行拍照，获得高倍镜视野图片；

其中，所述目标高倍视野区域确定单元进一步包括：

划分单元，用于将所述低倍镜拍照单元所确定的每一存在目标颗粒的低倍镜视野图片划分为多个高倍镜视野区域；

识别单元，用于识别出每一存在目标颗粒的低倍镜视野图片中存在目标颗粒的高倍镜视野区域，并获得其位置信息；

排序单元，用于对所述所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域按目标颗粒的数量从大到小进行排序；

选定单元，从所有的存在目标颗粒的高倍镜视野区域中选定目标高倍视野区域，并获得各目标高倍视野区域的位置信息；其中，所述选定单元进一步包括：

比较单元，将所述所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域的总数与一预设的高倍镜最大拍照张数进行比较；

比较结果处理单元，如果所述总数小于或等于所述最大拍照张数，则将所述所有存在目标颗粒的高倍镜视野区域选定为目标高倍视野区域，并获得各目标高倍视野区域的位置信息；如果所述总数大于所述最大拍照张数，则选定经所述排序单元排序后，处于前列的最大拍照张数个存在目标颗粒的高倍镜视野区域为目标高倍视野区域，并获得各目标高倍视野区域的位置信息。

5.如权利要求4所述的装置，其特征在于，所述最大拍照张数小于所述聚集平面的所有高倍镜视野区域的总数。