[发明专利]一种荧光光谱偏振度和偏振角的测量方法

权利要求书

1.一种荧光光谱偏振度和偏振角的测量方法，其特征在于：其具体步骤如下：

步骤1：将激光光源(1)、起偏偏振器(2)、比色皿(3)、检偏偏振器(4)以及光谱仪(5)放置于同一水平面P)上；比色皿(3)中装载待测样品；

步骤2：激光光源(1)发出的连续激光入射至起偏偏振器(2)，其出射光为完全偏振光，偏振方向垂直于水平面P；

步骤3：步骤2中所述完全偏振光入射至比色皿(3)中的待测样品上，激发出荧光；所述完全偏振光的入射方向垂直于比色皿(3)的侧表面Q1；

步骤4：检偏偏振器(4)平行于与比色皿(3)的表面Q1相邻的表面Q2；步骤3中所述荧光入射至检偏偏振器(4)，其出射光线进入光谱仪(5)；

步骤5：将检偏偏振器(4)的偏振方向调整至与步骤2中所述完全偏振光偏振方向平行；

步骤6：使用光谱仪(5)测量并记录荧光的光谱强度I(0)；

步骤7：将检偏偏振器(4)沿顺时针方向旋转45度，并使用光谱仪(5)测量并记录此时的荧光光谱强度I(45)；

步骤8：将检偏偏振器(4)沿顺时针方向再旋转45度，并使用光谱仪(5)测量并记录此时的荧光光谱强度I(90)；

步骤9：将检偏偏振器(4)沿顺时针方向再旋转45度，并使用光谱仪(5)测量并记录此时的荧光光谱强度I(135)；

步骤10：使用公式(1)计算荧光偏振度DOP，使用公式(2)计算荧光偏振角AOP；

DOP=S12+S22S0---(1)]]>

其中，S₀＝I(0)+(90)；S₁＝I(0)-(90)；S₂＝2×I(45)-S₀；

AOP=12arctan(S2S1)---(2)]]>

经过上述步骤的操作，即可得到待测样品的荧光偏振度DOP和偏振角AOP的值。

2.如权利要求1所述的一种荧光光谱偏振度和偏振角的测量方法，其特征在于：其还包括步骤11，计算荧光偏振度和偏振角的误差曲线；其过程为：

步骤11.1：用公式(3)计算荧光的检验偏振度DOP′；

DOP′=S12+S32S0---(3)]]>

其中，S₃＝I(45)-I(135)；

步骤11.2：用公式(4)计算荧光偏振度的误差曲线δDOP；

δDOP=|DOP′-DOPDOP|---(4)]]>

步骤11.3：用公式(5)计算荧光的检验偏振角AOP′；

AOP′=12arctan(S3S1)---(5)]]>

步骤11.4：用公式(6)计算荧光偏振角的误差曲线δAOP；

δAOP=|AOP′-AOPAOP|---(4)]]>

经过上述步骤的操作，即可得到待测样品的荧光偏振度的误差曲线δDOP和偏振角的误差曲线δAOP。