[发明专利]一种具有宽谱域光透过特性和陨石坑绒面直接生长的ZnO:Li透明导电薄膜的制备方法有效
申请号: | 201410299623.3 | 申请日: | 2014-06-30 |
公开(公告)号: | CN104078531A | 公开(公告)日: | 2014-10-01 |
发明(设计)人: | 胡跃辉;陈义川;胡克艳 | 申请(专利权)人: | 景德镇陶瓷学院 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0224 |
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地址: | 333001 江西省景德*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 宽谱域光 透过 特性 陨石坑 直接 生长 zno li 透明 导电 薄膜 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及太阳电池的前电极透明导电膜制造技术领域,具体是一种具有宽谱域光透过特性和陨石坑绒面直接生长的ZnO:Li透明导电薄膜的制备方法及其制得产品。
背景技术
透明导电薄膜已被广泛运用在日常的光电产品——太阳电池透明电极、液晶显示、触摸控制显示器、抗辐射线高透光保护镜及汽车前窗玻璃加热电路等,是光电产品的关键材料之一,是我国急需解决的具有共性重大基础研究问题之一。
目前应用于太阳电池(如图1所示)前电极上的透明导电膜主要有两种。一种是锡掺氧化铟(ITO),这种透明导电膜对可见光透过率可达90%以上,电阻率可低至10-5Ω·cm,产品成熟。但是,这种产品最大的缺陷是:化学元素铟在地球上属于稀缺元素,在自然界中贮存量少,价格较高,不环保;另一种是掺氟的SnO2导电膜(SnO2:F,简称为FTO),可以做为ITO导电膜的替换用品。但SnO2导电膜用作太阳能电池前电极时,在等离子体环境下其电学性能不够稳定,将影响电池性能。
公开的文献报道结果绝大部分只是拓展到900nm波长有较好的光透过率,尽管Yang M等人在拓宽红外光透过率方面取得了很好的效果,但还是使用了地球上稀缺的铟元素。可知,目前在拓宽ZnO基薄膜可见-近红外光高透过率方面的工作仍然任重道远。因此,在研究方法和思路上突破plasma频率理论限制,通过对ZnO薄膜进行掺杂改性,研究提高载流子迁移率和减小掺杂ZnO薄膜载流子有效质量的理论和方法,在保证薄膜良好导电性能的前提下,达到拓宽红外光透过范围目的,这是掺杂ZnO薄膜应用于太阳电池前电极所需要解决的关键基础问题之一。
由于绒面结构TCO 薄膜的应用可以增强光散射作用,改善陷光效果,对提高Si 基薄膜太阳电池的效率和稳定性能起到决定性的影响。J. Hü pkes等人报道,通过优化磁控溅射工艺,在沉积压强在4.3 Pa条件下制备的样品,通过酸刻方法,获得陨石坑结构表面形貌;国内段苓伟、薛俊明等人报道,适当氧流量制备具有花瓣状薄膜表面形貌,酸刻后薄膜表面为陨石坑状。这种方法获得的绒面结构,具有较好的陷光作用,适宜用于太阳电池前电极,但大面积腐蚀ZnO 薄膜形成绒面结构时具有高的风险性和造成材料浪费,这种方法需要先进行磁控溅射制备而后刻蚀二步完成,增加了工艺的复杂性。解决陨石坑状绒面ZnO-TCO本征制备,及解决ZnO-TCO与p-SiC: H窗口层之间的高势垒问题,是掺杂ZnO薄膜应用于太阳电池前电极所需要解决的另外两个关键基础问题。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种具有高导电性、高透光性、较高绒度、本征陨石坑绒面、优异陷光性能、宽谱域光透过性、与p-型窗口层接触势垒低的ZnO:Li透明导电薄膜的制备方法及其制得产品。
本发明的技术方案是:一种具有宽谱域光透过特性和陨石坑绒面直接生长的ZnO:Li透明导电薄膜的制备方法,包括以下步骤:
(1)装片:选用摩尔比为Li:Zn=3.5~5.5:96.5~94.5的Li2O和ZnO为原料,研磨成粉后经高温烧结处理,制得Li2O:ZnO陶瓷靶材;将上述制得的Li2O:ZnO陶瓷靶材和衬底间隔相对地装入磁控溅射镀膜设备的真空腔体中;
(2)ZnO:Li薄膜层的生长:先将真空室的背景气压抽至4.5~8.0×10-4 Pa,通入溅射气源Ar、其气体流量为29.4~30sccm,调整真空阀门的位置,使真空室的溅射气压维持在0.7~1.0Pa,溅射功率200~300 W,然后在温度为450~550℃和200~250℃的衬底上分别沉积30~40min和40~50min,制得ZnO:Li薄膜层;
(3)ZnO:Li-H过渡疏松层的生长:先保持通入溅射气体Ar,加入另一种掺杂气体H2,H2流量0.6~1.2sccm,使Ar和H2总流量保持在30~31.2sccm,调整溅射气压维持在0.7~1.0Pa;溅射功率为300~350W,偏压50~100V,然后在温度为100~150℃的衬底上沉积10~15min,即在ZnO:Li薄膜层基础上得到一层厚度为50~100nm 的ZnO:Li-H过渡疏松层;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的