[发明专利]夹心串联式PIN结构α辐照电池及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201410300604.8 申请日: 2014-06-29
公开(公告)号: CN104051047B 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 郭辉;黄海栗;张艺蒙;宋庆文;张玉明 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G21H1/06 分类号: G21H1/06
代理公司: 陕西电子工业专利中心61205 代理人: 王品华,朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 夹心 串联式 pin 结构 辐照 电池 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种夹心串联式PIN结构α辐照电池,包括:PIN单元和α放射源层(11),其特征在于:

所述PIN单元,采用上下两个PIN结串联构成;其上PIN结自下而上依次为,N型外延层欧姆接触电极(5)、N型高掺杂外延层(4)、P型低掺杂外延层(3)、p型SiC衬底(2)、P型欧姆接触电极(1);其下PIN结自下而上依次为,N型欧姆接触电极(10)、n型SiC衬底(9)、N型低掺杂外延层(8)、P型高掺杂外延层(7)、P型外延层欧姆接触电极(6);

所述α放射源层(11),夹在上PIN结的N型外延层欧姆接触电极(5)与下PIN结P型外延层欧姆接触电极(6)之间,以实现对高能α粒子的充分利用。

2.根据权利要求1所述的电池,其特征在于α放射源层(11)采用相对原子质量为241的镅元素或相对原子质量为238的钚元素,即Am241或Pu238

3.根据权利要求1所述的电池,其特征在于α放射源层(11)的厚度h满足h≤m,其中m为α放射源所释放的高能α粒子在α放射源材料中的平均入射深度,对于α放射源为Am241的,其取值为:m=7.5μm,对于α放射源为Pu238的,其取值为:m=10μm。

4.根据权利要求1所述的电池,其特征在于P型低掺杂外延层(3)和N型低掺杂外延层(8)的厚度L满足L≥g,其中,g为α放射源所释放的高能α粒子在4H-SiC中的平均入射深度,对于α放射源为Am241的,其取值为:i=10μm,对于α放射源为Pu238的,其取值为:i=18.2μm。

5.根据权利要求1所述的电池,其特征在于p型SiC衬底(2)、n型SiC衬底(9)均采用掺杂浓度为8x1017cm-3的4H-SiC衬底,P型低掺杂外延层(3)、N型高掺杂外延层(4)、P型高掺杂外延层(7)、N型低掺杂外延层(8)均为外延的4H-SiC材料,以提高电池的寿命和开路电压。

6.一种夹心串联式PIN结构α辐照电池的制备方法,包括以下步骤:

第一步,制作上PIN结:

1.1)对p型SiC衬底进行清洗,以去除表面污染物;

1.2)利用化学气相淀积CVD法在清洗后的p型SiC衬底表面外延生长一层掺杂浓度为1x1015~3x1015cm-3,厚度为15~28μm的P型低掺杂外延层;

1.3)利用化学气相淀积CVD法在P型低掺杂外延层表面外延生长一层掺杂浓度为1x1019~3x1019cm-3,厚度为0.1~0.2μm的N型高掺杂外延层;

1.4)利用电子束蒸发法在N型高掺杂外延层表面和p型SiC衬底未外延的背面分别淀积厚度为300nm的Ni金属层,作为N型外延层欧姆接触电极和P型欧姆接触电极;

第二步,制作下PIN结:

2.1)对n型SiC衬底进行清洗,以去除表面污染物;

2.2)利用化学气相淀积CVD法在清洗后的n型SiC衬底表面外延生长一层掺杂浓度为1x1015~3x1015cm-3,厚度为15~28μm的N型低掺杂外延层;

2.3)利用化学气相淀积CVD法在N型低掺杂外延层表面外延生长一层掺杂浓度为1x1019~3x1019cm-3,厚度为0.1~0.2μm的P型高掺杂外延层;

2.4)利用电子束蒸发法在P型高掺杂外延层表面淀积厚度为300nm的Al金属层,作为P型外延层欧姆接触电极;在n型SiC衬底未外延的背面淀积厚度为300nm的Ni金属层,作为N型欧姆接触电极;

2.5)制备α放射源层:利用分子镀在上述n型SiC衬底淀积的Al金属层上镀一层厚度为4~8μm的α放射源层;

第三步,利用键合法将上PIN结与下PIN结键合在一起,使α放射源层夹在上PIN结的N型外延层欧姆接触电极与下PIN结的P型外延层欧姆接触电极中间,形成夹心串联式PIN结构α辐照电池。

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