[发明专利]存储器的测试装置和测试方法

权利要求书

1.一种存储器的测试装置，所述存储器包括存储单元和与所述存储单元连接的位线，其特征在于，所述存储器的测试装置包括：比较单元，所述比较单元和位线一一对应连接，所述比较单元包括至少两个电流比较器，所述至少两个比较单元的结构相同，所述电流比较器的第一输入端连接位线，所述电流比较器的第二输入端适于输入基准电流，位于同一个比较单元中的电流比较器的第二输入端输入的基准电流值不相同，所述电流比较器根据位线上的电流值和基准电流之间的比较结果输出数字编码。

2.如权利要求1所述的存储器的测试装置，其特征在于，所述电流比较器为电流感应放大器。

3.如权利要求1所述的存储器的测试装置，其特征在于，还包括：编码器，所述编码器与所述比较单元一一对应连接，所述比较单元中的电流比较器的输出端连接所述编码器的输入端。

4.一种存储器的测试方法，所述存储器包括存储单元和与所述存储单元连接的位线，其特征在于，所述存储器的测试方法包括：

激活需测试的存储单元，同一次激活的存储单元连接不同的位线；

存储单元被激活后，获得被激活的存储单元对应的第一数字编码，所述第一数字编码表征所述被激活的存储单元连接的位线上的电流值与至少两个基准电流值的比较结果，所述至少两个基准电流值不相同；

测量位线上的电流值以获得存储单元和电流值的对应关系，与所述被测量电流值的位线连接的存储单元对应不同的第一数字编码。

5.如权利要求4所述的存储器的测试方法，其特征在于，还包括：将第一数字编码转换为第二数字编码，所述第二数字编码的位数小于第一数字编码。

6.如权利要求4所述的存储器的测试方法，其特征在于，还包括：基于所述存储单元和电流值的对应关系计算全部需测试的存储单元对应的电流值的平均值及方差。

7.如权利要求4所述的存储器的测试方法，其特征在于，还包括：基于所述存储单元和电流值的对应关系获得不同电流值对应的需测试的存储单元数量。

8.如权利要求4所述的存储器的测试方法，其特征在于，获得全部需测试的存储单元对应的第一数字编码之后，执行所述测量与不同的第一数字编码对应的存储单元连接的位线上的电流值以获得存储单元和电流值的对应关系的步骤。

9.如权利要求4所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述需测试的存储单元分多次进行激活，在第一次激活并获得第一数字编码之后，或者在激活并获得的第一数字编码与前一次激活并获得的第一数字编码不相同时，执行所述测量与不同的第一数字编码对应的存储单元连接的位线上的电流值以获得存储单元和电流值的对应关系。