[发明专利]涂覆的切削工具

权利要求书

1.一种涂覆的切削工具，其包含基材和涂层，其中所述涂层包含：

一个MTCVD TiCN层，和

一个α-Al₂O₃层，

其中所述α-Al₂O₃层展示出使用CuKα辐射和θ-2θ扫描测量的X-射线衍射图案，其中根据Harris公式确定织构系数TC(hkl)

其中I(hkl)＝所述(hkl)反射的测量强度(积分面积)，I₀(hkl)＝根据ICDD的PDF卡号00-010-0173的标准强度，n＝在计算中使用的反射的数量，

使用的(hkl)反射是(012)，(104)，(110)，(113)，(116)，(300)，(214)和(0 0 12)，其特征在于TC(0 0 12)高于5，和其中

使用X-射线衍射在所述切削工具的间隙面上测量，所述α-Al₂O₃的(0 0 12)面的摇摆曲线峰的半峰全宽(FWHM)是小于30°的FWHM，和其中

所述TiCN层展示出使用CuKα辐射测量的X-射线衍射图案，其中在220峰的积分面积强度和311峰的积分面积强度之间的关系，I₂₂₀/I₃₁₁，为低于或等于0.4。

2.根据权利要求1所述的切削工具，其中TC(0 0 12)高于6。

3.根据权利要求1所述的切削工具，其中TC(0 0 12)高于7。

4.根据权利要求1所述的切削工具，其中所述半峰全宽(FWHM)是小于26°的FWHM。

5.根据权利要求1所述的切削工具，其中所述半峰全宽(FWHM)是小于22°的FWHM。

6.根据权利要求1所述的切削工具，其中在所述切削工具的前刀面上的α-Al₂O₃层的X-射线衍射中的(0 0 12)衍射峰的FWHM和在所述切削工具的间隙面上的α-Al₂O₃的X-射线衍射中的(0 0 12)衍射峰的FWHM之间的差Δ1为Δ1>0.2。

7.根据权利要求6所述的切削工具，其中所述差Δ1为Δ1>0.3。

8.根据权利要求6所述的切削工具，其中所述差Δ1为Δ1>0.4。

9.根据权利要求1所述的切削工具，其中在所述α-Al₂O₃层的X-射线衍射中的(0 0 12)衍射峰的FWHM和在1030℃下在N₂中加热处理3小时后的切削工具的X-射线衍射中的(0 012)衍射峰的FWHM之间的差Δ2为Δ2>0.2。

10.根据权利要求9所述的切削工具，其中所述差Δ2为Δ2>0.3。

11.根据权利要求9所述的切削工具，其中所述差Δ2为Δ2>0.4。

12.根据前述权利要求中任一项所述的切削工具，其中所述α-Al₂O₃层为2至15μm。

13.根据权利要求12所述的切削工具，其中所述α-Al₂O₃层为3至7μm。

14.根据权利要求12所述的切削工具，其中所述α-Al₂O₃层为4至6μm。