[发明专利]一种衰减系数检测方法

权利要求书

1.一种衰减系数检测方法，其特征在于，所述方法包括： 

振幅检测步骤，基于激光测振原理，分别检测具有预设几何形状的被测样品和衰减系数已知的标准样品的样品振幅数据； 

衰减系数确定步骤，根据所述被测样品和标准样品的样品振幅数据，计算所述被测样品的衰减系数。 

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述振幅检测步骤包括： 

利用电磁脉冲发生器分别向标准样品和待测样品发射预设电磁脉冲，以使所述标准样品和待测样品产生振动； 

利用激光测振仪分别对所述标准样品和待测样品的振动进行检测，得到所述标准样品和待测样品的样品振幅数据。 

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，利用激光测振仪根据预设扫描网格参数检测所述标准样品和待测样品的样品振幅数据。 

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设扫描网格参数包括以下所列项中的至少一项： 

网格形状、网格点间隔、扫描次数。 

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述振幅检测步骤中， 

利用激光测振仪分别获取网格点位置处所述标准样品和待测样品的网格振幅数据； 

根据所述网格振幅数据，确定所述标准样品和待测样品的样品振幅数据。 

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，将所述标准样品和待测样品的在网格点的中心点位置处的网格振幅数据，分别作为所述标准样品和待测样品的样品振幅数据。 

7.如权利要求1～6中任一项所述的方法，其特征在于，所述衰减系数确定步骤包括： 

根据所述标准样品和待测样品的样品振幅数据，分别获取所述标准样品和待测样品的初至波数据； 

分别对所述标准样品和待测样品的初至波数据进行傅里叶变换，得到所述标准样品和待测样品的频谱振幅数据； 

根据所述标准样品和待测样品的频谱振幅数据，采用频谱振幅比法计算所述待测样品的衰减系数。 

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述标准样品和待测样品的频谱振幅数据分别以如下公式表示： 

其中，f表示波的频率，A₁(f)和A₂(f)分别表示标准样品和待测样品的频谱振幅数据，x表示传播距离，G₁(x)和G₂(x)表示标准样品和待测样品的几何因子，α₁和α₂分别表示标准样品和待测样品的衰减系数，k₁和k₂分别表示标准样品和待测样品的波数，η表示阻尼系数，t表示波传播的时间。 

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述采用频率振幅比法计算所述待测样品的衰减系数的步骤包括： 

1)计算所述标准样品与待测样品的频谱振幅比： 

α₁＝γ₁·f 

α₂＝γ₂·f 

其中，γ₁和γ₂分别表示标准样品和待测样品中波的传播系数； 

2)计算以波的频率f为自变量的直线的斜率，根据斜率和所述标准样品的衰减系数α₁和传播距离x计算所述待测样品的衰减系数α₂。 

10.如权利要求1～9中任一项所述的方法，其特征在于，所述标准样品包括纯铝样品。